DFT

　　DFT 　　隨著電子電路集成度的提高，電路愈加復(fù)雜，要完成一個電路的測試所需要的人力和時間也變得非常巨大。為了節(jié)省測試時間，除了采用先進(jìn)的測試方法外，另外一個方法就是提高設(shè)計本身的可測試性。其中，可測試性包括兩個方...... [查看詳細(xì)]