直流測試中，激光二極管或VCSEL模組的關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)

在直流測試中，激光二極管或VCSEL模組的關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)如下:
•激光二極管正向壓降
• 拐點測試/線性度測試(dL/dI)
• 閾值電流
•背光探測二極管反向偏置電壓
•背光探測二極管電流
•背光探測二極管暗電流
•光輸出功率

通過LIV測試掃描，可以完成多數(shù)最常見的直流特性測量。這種快速且廉價的直流測試可在測試過程的早期提早確定失效的組件，隨后昂貴的非直流域測試系統(tǒng)可以更經(jīng)濟地對剩下的高產(chǎn)率元器件進行測試。圖1顯示了LIV測試掃描的基本儀器配置。

本文引用地址：http://www.2s4d.com/article/201702/338569.htm
圖1
LIV測量框圖