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Xilinx FPGA抗輻射設計技術研究

作者: 時間:2011-07-20 來源:網絡 收藏

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的可編程I/O也容易受到粒子的影響產生SEU和SEL(目前只發(fā)現三態(tài)腳在發(fā)生錯誤時可以變成輸出腳,還沒有發(fā)現I/O發(fā)生方向轉換(即輸入變成輸出或者輸出變成輸入)。輸入輸出腳的三倍冗余設計是一種非常有效的方法,尤其是對因為配置存儲器發(fā)生單粒子效應的情況下,但是這種方法需要占用三倍的I/O資源,所以設計的時候需要慎重考慮。
我們在內分多個區(qū)域,分別采用TMR設計,減小出錯概率。
3.3 防止關鍵電路SET引起的抖動
SET在時鐘電路或者其他數據、控制線上容易產生短脈沖抖動,這種抖動有可能會造成電路的誤觸發(fā)或者數據鎖存的錯誤。為了減少這種短脈沖抖動的影響,在設計時可采用如下方法:
(1)內部復位電路盡可能使用同步復位;
(2)控制線盡可能配合使能信號線使用;
(3)組合邏輯數據在鎖存時盡可能配合使能信號。
也就是說,盡量在觸發(fā)邏輯中配合另一個使能條件,這樣就可以屏蔽由SET產生的大部分抖動。
3.4 系統(tǒng)監(jiān)控與重配置(Configuration Scrubbing)
在某些設計壽命不是很長的衛(wèi)星中,COTS器件的應用已經成為可能,在類似的信號處理或者星務管理平臺中,采用一種金字塔形體系結構可以大大提高平臺的可靠性,有效地抵抗各種效應引起的可恢復故障。
Actel高可靠性的反熔絲負責從非易失大容量存儲器中讀取 FPGA的配置數據對其進行配置,然后在運行期間,對最容易受效應影響的配置存儲器按列進行讀操作,然后與標準數據進行比對,對出現錯誤的列進行局部重配置。
另外,也可以通過對回讀數據進行CRC校驗來檢驗配置存儲器是否出現錯誤。
對配置存儲器的回讀校驗和重配置(或局部重配置)是一種有效的抵抗輻射效應的方法。

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Scrubbing通過部分重置刷新配置存儲器,通過連續(xù)重置修復SEU,Scrub速度至少十倍于最壞的SEU速度??梢酝ㄟ^兩條途徑來實現Scru-bbing,第一條途徑是回讀、比較、修復(closed-loop scrubbing)),第二條途徑是連續(xù)重置(open-loop scrubbing) 并不是所有的資源都可以被scrubbed的,比如SRL16s、LUT RAM、BRAM、BRAM data就不能被scrubbed,可以使用BRAM多模冗余或EDAC算法。
也并不是所有的資源都需要被scrubbed,大部分routing bits不需要scrubbed。

4 結論
文章結合實際工程實踐給出了解決常見的FPGA輻射失效問題的一些方法;對FPGA在電源輸入端使用限流電阻,信號處理板采用雙機冷備份,對于單粒子翻轉和鎖定均具有相應對策,如發(fā)生單粒子翻轉或鎖定只對單機的部分功能有影響,都可以通過切機或重新加電消除影響。本文給出的有關大規(guī)??膳渲秒娮悠骷脑O計方法可以為航天電子設備的設計提供參考。


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