SoC中放大器和ADC的校準(zhǔn)

　　圖4顯示了存在偏移誤差和增益誤差的系統(tǒng)：　　

 

　　片上系統(tǒng) (SoC) 是在單顆芯片上集成模擬和數(shù)字外設(shè)以及微處理器的混合信號控制器，其不僅在同一器件中集成了模擬前端所需的所有組件，如放大器、濾波器、ADC等，而且還可提供靈活的路由選項。利用這些靈活的資源，我們能精確地解決偏移誤差和增益誤差問題。

　　下面讓我們討論一些用來消除偏移和增益誤差廣泛采用的校準(zhǔn)方法。每種方法都有自己的優(yōu)點和缺點。根據(jù)應(yīng)用不同，我們可使用一種方法、或者多種方法的組合，從而實現(xiàn)最高的精度。

　　兩點校準(zhǔn)

　　這種校準(zhǔn)方法能同時解決偏移誤差和增益誤差。在方程式4中，如果實際增益ma和偏移C為已知，那么實際輸入可用方程式5進(jìn)行計算：　　

 

　　參數(shù)ma和C均可通過兩點校準(zhǔn)過程加以確定：

　　1、在模擬前端輸入處施加0V電壓，測量ADC輸出，并記錄為Offset (C)。
　　2、在輸入處施加已知參考電壓并測量ADC輸出。為了實現(xiàn)最佳性能，參考電壓應(yīng)大于滿量程值的90%。
　　3. 計算計數(shù)/電壓 (ma) 或電壓/計數(shù) (1/ma) 增益?！　?/p>

　　

 

　　4、將偏移和增益值存儲在非易失性存儲器中，并在實際測量中使用該值。

　　當(dāng)偏移和增益值被存儲之后，我們就能使用以下方法測量輸入信號：

　　1. 測量輸入ADC計數(shù)。
　　2. 使用偏移和增益值計算輸入電壓。　　

　　

 

　　根據(jù)應(yīng)用不同，用于執(zhí)行偏移或刻度校準(zhǔn)的觸發(fā)器可用開關(guān)實現(xiàn)，或者也可通過通信接口接受命令實現(xiàn)。

　　刻度可以是被測量的實際單位的函數(shù)。舉例來說，如果您測量分流器上壓降的電流，那么您不必測量電壓再得出電流，而是可以直接對分流器施加參考電流并通過計數(shù)/安培來計算刻度。這就消除了分流電阻容差所造成的誤差問題。

　　缺點：

　　使用這種偏移和增益補償方法有兩個缺點：

　　1. 運算放大器的偏移有自身的溫度系數(shù)，會隨溫度而變化。這會導(dǎo)致在進(jìn)行校準(zhǔn)溫度以外的其它溫度上會出現(xiàn)偏移誤差。
　　2. 兩點校準(zhǔn)會在制造進(jìn)程中多加一個步驟。

　　我們可通過以下技術(shù)方法來解決這兩個缺點。