通過(guò)增益校準(zhǔn)提高DAC積分非線性(INL)
作者：OnurOzbek
時(shí)間：2012-08-21
來(lái)源：電子產(chǎn)品世界
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圖3：帶ADC反饋的IDAC
INL通常在滿量程的一半達(dá)到其最大值，如圖 4所示。如果我們能把這個(gè)峰值降下來(lái)，我們將會(huì)顯著改善INL。這個(gè)發(fā)現(xiàn)引導(dǎo)我們使用兩點(diǎn)校正代替終端或單點(diǎn)校正技術(shù)，因?yàn)橥ㄟ^(guò)終端或單點(diǎn)校正技術(shù)并不足以完全去除增益誤差。第一個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)用來(lái)校準(zhǔn)前半部分(見(jiàn)方程1)。同樣，第二個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)用于校準(zhǔn)后半部分(見(jiàn)方程2)?！ ?/p>本文引用地址：http://www.2s4d.com/article/135954.htm
該算法工作流程如下，見(jiàn)圖5。最初，這兩個(gè)增益修正值在DAC數(shù)字輸入值中間和末端計(jì)算和保存。這是唯一一次使用ADC。因此，我們只有需要測(cè)量和計(jì)算校準(zhǔn)一次?！ ?/p>
圖5：兩點(diǎn)增益校準(zhǔn)算法流程圖
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