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電磁兼容外場測試中的干擾抵消技術(下)*

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作者：葛壽兵 中國電子科技集團公司第23研究所　龔成 中國電子科技集團公司第50研究所 時間：2009-05-22 來源：電子產(chǎn)品世界 收藏

　　采用M個陣元的自適應線天線陣，它的方向圖函數(shù)可表示為：

本文引用地址：http://www.2s4d.com/article/94656.htm

　　(16)

　　式中wi為各陣元的復加權系數(shù);d為相鄰單元間距。

　　圖6給出了當自適應天線陣列方向圖最大增益指向q=0o的被測信號方向，方向圖零深對準q=q1的干擾信號方向，則測試點處的被測信號與干擾信號的幅度比為：

　　(17)

　　如果SIR高于15dB，則進入頻譜儀的干擾信號幅度遠小于被測信號，即可以忽略干擾信號的對測試結果的影響。

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