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用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)

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作者: 時間:2008-04-10 來源:電子產品世界 收藏
  電壓電平可編程性和可考慮的驅動器強度,結合過流保護或其他安全測量是所希望的。采用HYSCAN I/O資源測試程序,不需要考慮I/O的物理實現(xiàn)性。

  對于測試圖形,無論通過I/O模塊或內電路測試器的測試通道提供I/O都沒有關系。基于網(wǎng)表產生測試程序,而網(wǎng)描述對測試儀I/O資源是可接入的。測試儀配置文件和連線表提供測試儀I/O到網(wǎng)的實際分配信息。只有測試儀配置和連線表需要適配實際的測試裝置,而測試程序本身是不需要適配的。

本文引用地址:http://www.2s4d.com/article/81439.htm

  圖4示出采用測試儀I/O資源的實例。此實例包含可獨立應用系統(tǒng)、內電路測試系統(tǒng)和功能測試系統(tǒng)的3種測試儀配置。

  只需要一套測試程序,可以在所有3個測試系統(tǒng)中執(zhí)行同樣的測試,因為測試程序中I/O圖形尋址是由自測試儀配置控制的。在該實例中,可獨立應用的邊界掃描系統(tǒng)包括PXI邊界掃描控制器,帶192通道的PXI數(shù)字I/O模塊、PXI電源通道連接上的外設接口連接器。測試程序控制UUT的掃描鏈和I/O模塊的測試通道。



關鍵詞: ATE 邊界掃描 UUT

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