新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 業(yè)界動態(tài) > 目標(biāo)物聯(lián)網(wǎng),愛德萬測試打造靈活測試方案

目標(biāo)物聯(lián)網(wǎng),愛德萬測試打造靈活測試方案

作者:王瑩 時間:2015-05-14 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  進(jìn)入中國整整20年的測試不斷擴(kuò)展自己的業(yè)務(wù)范圍,針對最近越來越火熱的物聯(lián)網(wǎng)市場,測試整合旗下的相關(guān)產(chǎn)品,推出了靈活性可擴(kuò)展的多種測試方案。

本文引用地址:http://www.2s4d.com/article/274098.htm

  測試將經(jīng)典產(chǎn)品V93000系列進(jìn)行了更好的劃分,按照不同的測試需求進(jìn)行更好的產(chǎn)品搭配,可為每個客戶提供最高效的特定應(yīng)用解決方案。 從最廉價的支持的V93000-A到可以支持LTE芯片測試需求以及測試超過8000個引腳芯片的V93000-L系列,覆蓋了物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用中包括微處理器,混合信號、閃存、射頻以及ADC等各種不同芯片測試需求。愛德萬SoC測試業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理Martin Dresler特別指出,V93000系列現(xiàn)在采用不同的板卡可以進(jìn)行測試功能的擴(kuò)展,目前V93000的擴(kuò)展方向主要針對物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用進(jìn)行相關(guān)的研發(fā),希望能幫助中國客戶更好地完成測試需求。

  T2000作為更為開放構(gòu)架的SoC測試平臺,靈活的平臺配合模塊化可擴(kuò)展的功能卡,讓用戶可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需要進(jìn)行不同測試功能卡的購買,能達(dá)到經(jīng)濟(jì)有效地對幾乎所有SoC芯片進(jìn)行測試。愛德萬測試業(yè)務(wù)發(fā)展高級總監(jiān)陸亞奇介紹,T2000可以支持最多4個測試項目同時進(jìn)行,提升了客戶的測試效率,愛德萬還根據(jù)一些熱點(diǎn)應(yīng)用進(jìn)行了相關(guān)參考解決方案的開發(fā),便于客戶更好的開展測試。




評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉