雙頻激光測量系統(tǒng)及其在lC加工設備中的應用
平面座標測量系統(tǒng)中考慮的問題
平面座標測量即確定平面上某一點相對于笛氏座標系的位置,對于IC加工設備來說,就是確定掩模或硅片表面上某一點相對于測量座標系的座標位置。IC加工設備中精密工件臺的座標測量方法,普遍采用激光干涉儀法。從表1列出的工件臺技術(shù)數(shù)據(jù)中指出其定位精度在(0.1~0.2)um的范圍內(nèi),為減小測量誤差對定位精度的影響,激光測量光路的布局應滿足平面座標測量的基本原則:
1.通常規(guī)定在門一平面內(nèi)兩正交的測量激光束a、b構(gòu)成的平面為測量座標系aob(或稱定座標系),示于圖4(a),要求y方向的兩束浙光束和成的平而必拭J卜面正交,因為激光束具有良好的直紅性,選擇高質(zhì)量的光學鏡頭及仔細訓整光路,可以認為兩激光束a、b是正交的。固定在運動臺面上的L形長條平面反射鏡(測量基礎器)構(gòu)成的座標AOB稱為運動座標系,所構(gòu)成的平面必須共禪正交,為保證裁座標系的共畫正交,必須采用整休L形的反射鏡。因為鏡面的不平度和正交性誤差影響測量精度,其鏡面的不平反要求為△,左于十分之一波長(入/10),工作面的垂直面△2小于1角秒。
2.激光光路的布局必須遵循阿貝原則:
即x、y方向測量激光束的光軸的交點,必須與被測量點軸線(z軸)交于一點。對于光刻機而言是指測量光軸對光刻軸交于一點,對于電子束曝光機而言是指x、y方向激光束與掃描電子束中心軸線三者相互垂直的交于一點(圖4b所示),也就是說激光測量的光學平面與電子束的掃描平面相重合。因此對工件臺導軌運動的直終性有較產(chǎn)的要求,導軌的水平不平度△2小于2角秒,導軌垂直方向不平度△4小于3角秒,工件臺的臺面垂直跳動△5在士2微米左右。
3.激光測量座標系中要求x、y方向的激光束(圖4a中的a線和b線),垂直入射到L形長條反射鏡x、y方向的兩個鏡面上(圖4a的OA而和OB面),避免余弦誤差,因此要求干涉儀在裝調(diào)過程中合理地選用基準面,保證測量光束與反射鏡面的垂直度誤差△。在1角分內(nèi)。
除此以外還須考慮干涉儀光路中在x一y方向上的干涉鏡同分光鏡位于同一基面上,一般安裝在同一塊L形平板上,使得x、y方向的測量處于等精度測量條件下。工件臺的死程誤差影響工件臺的絕對定位精度和重復定位.精度,因此要盡可能減小干涉鏡同被測量點軸線的距離。溫度變化是造成死程誤差的主要因素,因此工件臺要恒溫而且溫度控制在士0.1℃。還須考慮防振措施(主機自振頻率在1赫茲左右)。
參考文獻
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〔4〕王靜漢,電子束曝光機精密x一y工件臺研制,嘴光學工程》,1952,No.5。
干涉儀相關(guān)文章:干涉儀原理
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