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無(wú)鹵素的要求標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試

作者: 時(shí)間:2012-02-27 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
; LETTER-SPACING: normal; BACKGROUND-COLOR: rgb(255,255,255); orphans: 2; widows: 2; -webkit-text-size-adjust: auto; -webkit-text-stroke-width: 0px">  為了證明電路板用的材料中不含鹵素,制造商必須進(jìn)行焚燒,然后用離子色譜法測(cè)定有沒有鹵族元素。燃燒時(shí)溴化活化劑材料分解,在這些材料中,溴化物中的原子在室溫下以共價(jià)健結(jié)合成溴化物分子

  方法:

  (1)prEN 14582 Characterication of waste – Halogen and sulfur content – Oxygen combustion in closed systems and determination method

  method A (Calorimetric bomb method)

  method B (Schoniger flask combustion method)

  (2)IEC 61189-2 方法,用于電子材料、PCB板以及互聯(lián)結(jié)構(gòu)件和組裝件

  part 2 TEST 2C12 測(cè)試方法用于互聯(lián)結(jié)構(gòu)件

  (3)JPCA-ES-01-2003

  材料的測(cè)試方法

  (4)IPC TM-650 (Number 2.3.41)

要求規(guī)范:

        <input id="g8oz0"></input><label id="g8oz0"><xmp id="g8oz0"><pre id="g8oz0"></pre>
        • 規(guī)范
          要求
          IEC 61249-2-21
          Cl≤900ppm
          Br≤900ppm
          鹵素總量:1500ppm(F、I、At并沒有在工業(yè)定義中)
          JPCA-ES01 2003
          IPC 4101
          Apple Halogen-Free Specification
          069-1857-A
          Cl≤900ppm
          Br≤900ppm
          Cl+Br≤1500ppm
          Dell Halogen-Free Guideline A00-00(2008至少需有一個(gè)無(wú)鹵產(chǎn)品;2009年底需全面導(dǎo)入)
          Cl:1000ppm
          Br:1000ppm


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