全棧式電源測試方案助力技術(shù)革新，泰克科技參加2024（春季）亞洲充電展

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2024（春季）亞洲充電展于3月20日-22日在深圳福田會展中心6號館舉辦，技術(shù)領(lǐng)先的測試和測量解決方案提供商泰克攜全面電源測試解決方案和最新4B系列示波器參展，這也是4系列B自全球發(fā)布之后的首次公眾亮相。作為電源行業(yè)值得信賴的測試測量專家，基于電源設(shè)計百位工程師的研發(fā)需求和市場反饋，泰克為行業(yè)提供全棧式測試方案，從初期的器件選擇到最終的產(chǎn)品認證多個測試環(huán)節(jié)，泰克的專業(yè)測試方案讓工程師不再對高昂電源測試方案束手無策，并助力第三代半導(dǎo)體發(fā)展，為電源轉(zhuǎn)換應(yīng)用帶來技術(shù)革新。

亞洲充電展（ Asia Charging Expo ）簡稱 ACE ，由充電頭網(wǎng)發(fā)起，展會立足粵港澳大灣區(qū)，是全球影響最為廣泛的能源電子技術(shù)展會之一，也是亞洲屈指可數(shù)的充電行業(yè)技術(shù)產(chǎn)業(yè)盛會。得益于專業(yè)性強、參展商和觀眾覆蓋精準，亞洲充電展在全球享有相當高的知名度。泰克科技此次重點展示如下三個方面的解決方案。

功率半導(dǎo)體器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

DPT1000A功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)由泰克科技領(lǐng)銜開發(fā)，專門用于針對三代半導(dǎo)體功率器件的動態(tài)特性分析測試，旨在解決客戶在功率器件動態(tài)特性表征中常見的疑難問題，包括如何設(shè)計高速工作的驅(qū)動電路，如何適配多種芯片封裝形式，如何選擇和連接探頭進行信號測試，如何優(yōu)化和抑制測試過程中的噪聲和干擾。同時系統(tǒng)具備良好的開放性，支持客戶對測試硬件進行二次開發(fā)，幫助客戶在研發(fā)設(shè)計、失效分析、進廠檢測和試產(chǎn)階段快速評估器件性能，更快應(yīng)對市場需求改善產(chǎn)品性能。也幫助客戶快速驗證自研驅(qū)動電路，加速應(yīng)用端解決方案落地。

動靜態(tài)綜合老化測試系統(tǒng)HTXB-1000D

HTXB-1000D 動靜態(tài)綜合老化測試系統(tǒng)針對以SiC/GaN 為首的新型三代半導(dǎo)體功率器件，根據(jù)其特有的器件結(jié)構(gòu)和失效機理，在加速老化條件下，有針對性的施加特定壓力條件（包括靜態(tài)壓力和動態(tài)壓力），用以測試功率器件器件的漏流指標，以及其他典型特性參數(shù)（例如閾值開啟電壓，動態(tài)導(dǎo)通電阻等關(guān)鍵指標），以表征器件的老化特性和工作壽命?？梢宰屍骷a(chǎn)廠商和器件使用者在較短時間內(nèi)了解新型功率器件的老化特性，以及長期使用條件下的性能變化，為器件實際應(yīng)用過程中可能出現(xiàn)的故障進行預(yù)判和分析。

泰克模擬芯片流程 全棧式測試解決方案

芯片從晶圓到封裝為終端客戶使用的過程中，不同職能工程師會在各個階段進行不同的測試，確保產(chǎn)品的安全性，穩(wěn)定性和可靠性。泰克科技致力于提供卓越的測試解決方案助力模擬芯片全流程的測試測量需求。

多功能 4 系列 B MSO 具備應(yīng)對復(fù)雜設(shè)計挑戰(zhàn)的性能，并且擁有直觀的用戶界面，能夠更快地提供準確的測量結(jié)果，同時擁有一系列出色的分析工具。泰克全新4 系列B MSO專門面向需要卓越的精度、多功能性和易用性的嵌入式產(chǎn)品設(shè)計人員，其帶寬為 200 MHz 至 1.5 GHz，具有高達 16 位的垂直分辨率和 6.25 GS/s 的實時采樣率，并可實現(xiàn)與先前版本的 4 系列同樣出色的信號保真度。此外，該產(chǎn)品不僅繼承了前代產(chǎn)品備受好評的觸控式用戶界面，而且對處理器系統(tǒng)進行了升級；儀器的后部還增加了兩個USB 3.1主機端口，實現(xiàn)對USB存儲介質(zhì)高達10倍數(shù)據(jù)傳輸速度；13.3英寸高清觸摸顯示屏采用了新的光學(xué)粘合技術(shù)，提供更高對比度和更寬的視角。

泰克為工程師提供高效工具，幫助您在電源設(shè)計及診斷過程中更好的定位主要功率損耗點，測試電源的質(zhì)量、效率、諧波等功能從而幫助提供整體電源的效率，提高市場競爭力。