新聞中心

EEPW首頁(yè) > 元件/連接器 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > IGBT掃盲文,IGBT基礎(chǔ)與運(yùn)用知識(shí)學(xué)習(xí)

IGBT掃盲文,IGBT基礎(chǔ)與運(yùn)用知識(shí)學(xué)習(xí)

作者: 時(shí)間:2018-07-04 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  基礎(chǔ)與運(yùn)用

本文引用地址:http://www.2s4d.com/article/201807/382764.htm

  , 中文名字為絕緣柵雙極型晶體管,它是由(輸入級(jí))和PNP晶體管(輸出級(jí))復(fù)合而成的一種器件,既有器件驅(qū)動(dòng)功率小和開(kāi)關(guān)速度快 的特點(diǎn)(控制和響應(yīng)),又有雙極型器件飽和壓降低而容量大的特點(diǎn)(功率級(jí)較為耐用),頻率特性介于與功率晶體管之間,可正常工作于幾十kHz 頻率范圍內(nèi)。

  理想等效電路與實(shí)際等效電路如圖所示:



   的靜態(tài)特性一般用不到,暫時(shí)不用考慮,重點(diǎn)考慮動(dòng)態(tài)特性(開(kāi)關(guān)特性)。

  動(dòng)態(tài)特性的簡(jiǎn)易過(guò)程可從下面的表格和圖形中獲?。?/p>



  IGBT的開(kāi)通過(guò)程

  IGBT 在開(kāi)通過(guò)程中,分為幾段時(shí)間

  1.與MOSFET類(lèi)似的開(kāi)通過(guò)程,也是分為三段的充電時(shí)間

  2.只是在漏源DS電壓下降過(guò)程后期,PNP晶體管由放大區(qū)至飽和過(guò)程中增加了一段延遲時(shí)間。

  在上面的表格中,定義了了:開(kāi)通時(shí)間Ton,上升時(shí)間Tr和Tr.i

  除了這兩個(gè)時(shí)間以外,還有一個(gè)時(shí)間為開(kāi)通延遲時(shí)間td.on:td.on=Ton-Tr.i

  IGBT在關(guān)斷過(guò)程

  IGBT在關(guān)斷過(guò)程中,漏極電流的波形變?yōu)閮啥巍?/p>

  第一段是按照MOS管關(guān)斷的特性的

  第二段是在MOSFET關(guān)斷后,PNP晶體管上存儲(chǔ)的電荷難以迅速釋放,造成漏極電流較長(zhǎng)的尾部時(shí)間。

  在上面的表格中,定義了了:關(guān)斷時(shí)間Toff,下降時(shí)間Tf和Tf.i

  除了表格中以外,還定義

  trv為DS端電壓的上升時(shí)間和關(guān)斷延遲時(shí)間td(off)。

  漏極電流的下降時(shí)間Tf由圖中的t(f1)和t(f2)兩段組成,而總的關(guān)斷時(shí)間可以稱(chēng)為toff=td(off)+trv十t(f),td(off)+trv之和又稱(chēng)為存儲(chǔ)時(shí)間。

  從下面圖中可看出詳細(xì)的柵極電流和柵極電壓,CE電流和CE電壓的關(guān)系:



  從另外一張圖中細(xì)看MOS管與IGBT管柵極特性可能更有一個(gè)清楚的概念:

  開(kāi)啟過(guò)程



  關(guān)斷過(guò)程




上一頁(yè) 1 2 3 下一頁(yè)

關(guān)鍵詞: IGBT MOSFET

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專(zhuān)區(qū)

關(guān)閉