高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器輸入阻抗測量
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圖9: 顯示的是轉(zhuǎn)換器輸入阻抗曲線的“實部”部分，它比較了經(jīng)測量、數(shù)學和仿真方法得到的結(jié)果。
圖10: 顯示的是轉(zhuǎn)換器輸入阻抗曲線的“虛部”部分，它比較了經(jīng)測量、數(shù)學和仿真方法得到的結(jié)果。
現(xiàn)在討論圖9和圖10所示的測量結(jié)果。所有三條曲線并不完全重合，但很接近，這是因為某些測量誤差總是存在的，而且仿真可能并未考慮到轉(zhuǎn)換器的所有封裝寄生效應。因此，一定程度的不一致是正常的。盡管如此，這些曲線在形狀和輪廓方面都很相似，相當近似地給出了轉(zhuǎn)換器的阻抗特性。
注意，網(wǎng)絡分析儀只能在其特征阻抗標準乘/除10倍的范圍內(nèi)提供可信的測量結(jié)果。如果網(wǎng)絡分析儀的特征阻抗為50Ω，那么只能在5Ω到500Ω的范圍內(nèi)實現(xiàn)令人滿意的測量。這也是數(shù)據(jù)手冊中更愿意列出簡單R||C值的原因之一。
ADC輸入阻抗總結(jié)
了解轉(zhuǎn)換器阻抗是信號鏈設計的一個重要內(nèi)容?？傊舴钦嬲枰?，為什么要浪費大筆資金去購買昂貴的測試設備，或者費力去測量阻抗？不如使用數(shù)據(jù)手冊提供的RC并聯(lián)組合阻抗并稍加簡單計算，這種獲取轉(zhuǎn)換器阻抗曲線的方法更快捷、更輕松。
還應注意，工藝電阻容差可高達±20%。即使費盡辛苦去測量任何器件的輸入或輸出阻抗，也只能獲取一個數(shù)據(jù)點(當然，除非測量多個批次的許多器件隨溫度和電源電壓變化的情況)。請使用數(shù)據(jù)手冊中的仿真R||C值，它提供了關(guān)于特征阻抗與頻率關(guān)系的足夠信息，由此可以設計出正常工作的信號鏈。
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