常用中英文測試測量術語大全
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Offset Current（偏置電流）：
在沒有加入信號的情況下電路產生的電流。偏置電流是在電路中存在摩擦電、壓電、或者電化學效應的情況下產生的。
Overload Protection（過載保護）：
保護儀器不受其輸入端的過高電流或電壓影響的電路。
Picoammeter（皮安計）：
最適合精密測量小電流的安培計。一般為反饋安培計。Piezoelectric Effect（壓電效應）： 用來說明向某種類型的絕緣體施加應力的時候產生電流的術語。
Precision（精度）：
代表測量中的不確定的程度。常常用在可重復性或者可復制性等場合，但不應當用于準確度的場合。參見 Uncertainty。
Random Error（隨機誤差）：
受隨機誤差方式影響的大量測量結果的平均值與真值的偏差。參見Systematic Error。
Range（量程）：
能夠測量或者輸出的信號數(shù)值的連續(xù)帶。在雙極性儀器中，量程包括正值和負值。
Reading（讀數(shù)）：
代表輸入信號特性的顯示數(shù)字。
Reading Rate（讀數(shù)速率）：
讀數(shù)更新的速率。讀數(shù)速率是讀數(shù)之間的時間間隔的倒數(shù)。
Relative Accuracy（相對準確度）：
測量儀器相對于第二個標準的準確度。參見Absolute Accuracy。
Repeatability（重復性）：
在相同條件下，連續(xù)進行的測量之間的一致性。
Reproducibility（復現(xiàn)性）：
按照給定的變化條件，對同一個量所進行的測量之間的一致性。
Resolution（分辨率）：
可以測量（或輸出）和顯示的輸入（或輸出）信號的最小的部分。
Response Time（響應時間）：
對測量儀器來說，是指從加入階躍輸入信號到按照額定的準確度指示出其幅度值的時間；對源儀器來說，是指從程控儀器進行改變到在其輸出端得到該數(shù)值的時間。參見 Settling Time。
Rise Time（上升時間）：
信號從其峰-峰值的一個小的百分比（通常為10%）變到其峰-峰值的一個大的百分比（通常為90%）所需要的時間。參見Fall Time。
Sensitivity（靈敏度）：
可以測量或顯示的最小的量。
Settling Time（建立時間）：
對測量儀器來說，是指從加入階躍輸入信號到按照額定的準確度指示出其幅度值的時間；對源儀器來說，是指從程控儀器進行改變到在其輸出端得到該數(shù)值的時間。參見Response Time。
Shielding（屏蔽）：
圍繞著被測量電路的金屬閉合體或者圍繞著導線（同軸電纜或者三同軸電纜）的金屬套，用來接收干擾、交互作用和泄漏。屏蔽通常接地或者連到輸入低端。
Source-Measure Unit（SMU）（源-測量單元）：
能夠輸出和測量直流電壓和電流的電子儀器。一般的說，SMU具有兩種工作模式：電壓源、電流測量，或者電流源、電壓測量。又稱為源-監(jiān)視單元或者激勵-測量單元。
SourceMeter（數(shù)字源表）：
數(shù)字源表儀器在很多方面類似于源-測量單元，這包括輸出和測量電流和電壓以及進行掃描的能力。此外，數(shù)字源表儀器能夠直接以電阻、電壓和電流的形式顯示測量結果。它是為通用的、高速生產測試應用而設計的。它也可以在中-低電平測量中作為源來使用，或者用于研究工作中。
Source Resistance（源電阻）： 源阻抗的電阻分量。
Switch Card（開關卡）：
具有獨立或者絕緣的繼電器，來切換每個通道的輸入和輸出的一類電路卡。
Switching Mainframe（開關主機）：
用來連接源、測量儀器和被測設備的信號的一種開關儀器。這種主機又稱為掃描器、多路器、矩陣或者程控開關。
Systematic Error（系統(tǒng)誤差）：
受系統(tǒng)誤差方式影響的大量測量結果的平均值與真值的偏差。參見Ran dom Error。
Temperature Coefficient（溫度系數(shù)）：
對讀數(shù)（或者輸出值）隨溫度的變化而變化的一種度量。表示為每度溫度變化時的讀數(shù)（或者輸出值）的百分數(shù)加上字數(shù)。
Temperature Coefficient of Resistance（電阻溫度系數(shù)）：
每度溫度變化時，材料或器件的電阻變化量，通常表示為ppm/℃。
Thermoelectric EMFs（熱電動勢）：
在電路中，或者當不同材料的導體結合在一起時，由于溫度差而產生的電壓。
可以測量或顯示的最小的量。
Settling Time（建立時間）：
對測量儀器來說，是指從加入階躍輸入信號到按照額定的準確度指示出其幅度值的時間；對源儀器來說，是指從程控儀器進行改變到在其輸出端得到該數(shù)值的時間。參見Response Time。
Shielding（屏蔽）：
圍繞著被測量電路的金屬閉合體或者圍繞著導線（同軸電纜或者三同軸電纜）的金屬套，用來接收干擾、交互作用和泄漏。屏蔽通常接地或者連到輸入低端。
Source-Measure Unit（SMU）（源-測量單元）：
能夠輸出和測量直流電壓和電流的電子儀器。一般的說，SMU具有兩種工作模式：電壓源、電流測量，或者電流源、電壓測量。又稱為源-監(jiān)視單元或者激勵-測量單元。
SourceMeter（數(shù)字源表）：
數(shù)字源表儀器在很多方面類似于源-測量單元，這包括輸出和測量電流和電壓以及進行掃描的能力。此外，數(shù)字源表儀器能夠直接以電阻、電壓和電流的形式顯示測量結果。它是為通用的、高速生產測試應用而設計的。它也可以在中-低電平測量中作為源來使用，或者用于研究工作中。
Source Resistance（源電阻）： 源阻抗的電阻分量。
Switch Card（開關卡）：
具有獨立或者絕緣的繼電器，來切換每個通道的輸入和輸出的一類電路卡。
Switching Mainframe（開關主機）：
用來連接源、測量儀器和被測設備的信號的一種開關儀器。這種主機又稱為掃描器、多路器、矩陣或者程控開關。
Systematic Error（系統(tǒng)誤差）：
受系統(tǒng)誤差方式影響的大量測量結果的平均值與真值的偏差。參見Ran dom Error。
Temperature Coefficient（溫度系數(shù)）：
對讀數(shù)（或者輸出值）隨溫度的變化而變化的一種度量。表示為每度溫度變化時的讀數(shù)（或者輸出值）的百分數(shù)加上字數(shù)。
Temperature Coefficient of Resistance（電阻溫度系數(shù)）：
每度溫度變化時，材料或器件的電阻變化量，通常表示為ppm/℃。
Thermoelectric EMFs（熱電動勢）：
在電路中，或者當不同材料的導體結合在一起時，由于溫度差而產生的電壓。
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