嵌入式系統(tǒng)中存儲(chǔ)器性能研究

前節(jié)討論的數(shù)據(jù)和讀取方式的時(shí)候，都是基于動(dòng)態(tài)內(nèi)存的實(shí)際結(jié)構(gòu)，從內(nèi)存單元矩陣行地址，列地址來(lái)分析的。實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中，內(nèi)存控制器總是把內(nèi)存單元矩陣映射成線性連續(xù)空間的。不同的芯片組會(huì)給出不同的映射方法。圖10是Intel BX 440芯片組的內(nèi)存行列地址映射(128 MB)。本測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試的時(shí)候需要了解硬件的結(jié)構(gòu)，才能有效的找出內(nèi)存潛在的缺陷。

測(cè)試系統(tǒng)基于嵌入式Linux操作系統(tǒng)，采用命令行方式運(yùn)行，所有的輸入采用配置文件來(lái)設(shè)定。下面給出了一個(gè)配置文件的例子：


在正常和DRAM系統(tǒng)有故障的嵌入式系統(tǒng)下面分別得到了如圖11的檢測(cè)結(jié)果，從實(shí)驗(yàn)中可以發(fā)現(xiàn)有故障的系統(tǒng)在測(cè)試過(guò)程中某些測(cè)試項(xiàng)目無(wú)法通過(guò)，根據(jù)具體的情況就可以大致判斷出故障的原因，這樣就給系統(tǒng)設(shè)計(jì)者指明了改善系統(tǒng)性能的方向。

5 結(jié)語(yǔ)
本文研究從動(dòng)態(tài)內(nèi)存的失效模型出發(fā)，針對(duì)不同的部件可能發(fā)生的問(wèn)題，設(shè)計(jì)了檢測(cè)用的數(shù)據(jù)和讀取方式，將它們組合起來(lái)進(jìn)行測(cè)試，可以更有效地檢測(cè)動(dòng)態(tài)內(nèi)存中潛在的缺陷，具有高的失效類(lèi)型的覆蓋率。同時(shí)，動(dòng)態(tài)內(nèi)存測(cè)試作為嵌入式Linux測(cè)試系統(tǒng)的一個(gè)子系統(tǒng)得到了國(guó)際計(jì)算機(jī)系統(tǒng)制造商富士通公司的認(rèn)可。