Multitest MEMS測(cè)試校準(zhǔn)適用于MT9510水平拿放式測(cè)試

　　2012年1月---面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠(chǎng)商Multitest公司，現(xiàn)已將首臺(tái)適于MT9510水平拿放式測(cè)試分選機(jī)的Multitest MEMS設(shè)備發(fā)送到美國(guó)的一家IDM。這種新型組合以?xún)煞N成熟平臺(tái)為基礎(chǔ)：MT MEMS和MT9510?！?/p>本文引用地址：http://www.2s4d.com/article/128197.htm

　　該裝置適合MEMS陀螺儀測(cè)試，并已成功安裝。它充分利用了我們長(zhǎng)期積累的MEMS檢測(cè)專(zhuān)業(yè)知識(shí)以及對(duì)器件分選相關(guān)挑戰(zhàn)的全面了解。因此，MT9510業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的定位準(zhǔn)確度和三溫性能現(xiàn)也適用于MEMS測(cè)試。

　　Multitest已收到封裝轉(zhuǎn)換套件及其他系統(tǒng)的追加訂單。