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2010電子封裝技術與高密度集成技術國際會議

—— 會議通知
作者: 時間:2010-05-06 來源:電子產品世界 收藏

在過去十多年間,由中國電子學會生產技術學分會(CEPS)主辦的電子封裝技術國際會議,分別在中國的北京、上海、深圳等地成功舉辦過屆,為來自海內外學術界和工業(yè)界的專家、學者和研究人員提供了一個交流電子封裝技術新進展、新思路的重要技術平臺。為了更方便國內外同行參加電子封裝技術國際會議(EPT),集中行業(yè)內高水平的技術與學術力量,打造封裝國際會議品牌,經國內外同行建議,由中國電子學會決定,從2008年起,電子封裝技術(EPT)和高密度封裝(HDP) 合并為電子封裝技術和高密度封裝國際會議(EPT-HDP)。

本文引用地址:http://www.2s4d.com/article/108715.htm

ICEPT-HDP 2010將于20108月在中國西安舉行,為期4天。將有來自近20個國家和地區(qū)的代表參加,擬發(fā)表論文約300余篇。會議將通過專題講座、特邀報告、分會報告、論文張貼、展覽展示等形式對電子封裝各技術領域中的最新進展進行交流,誠邀業(yè)界人士踴躍參與。

一、 大會主要信息

會議地點:中國  西安             會議時間 20108

會議指定網站:http://www.icept.org

會議規(guī)模:400-500

議主題

先進封裝與系統(tǒng)集成: 球柵陣列封裝、芯片級封裝、倒裝芯片、晶圓級封裝、三維封裝、系統(tǒng)封裝。

高密度基板及組裝技術: 嵌入式無源和有源元件;高密度互連、印刷電路多層板及表面封裝技術等。  

封裝設計與模擬: 各種新型封裝/組裝設計;對子封裝的電、熱、光和機械特性建模、模擬和驗證的方法/技術/軟件;芯片-封裝-印刷電路板的共同設計;多功能和多尺度的建模、模擬、驗證方法及其軟件技術。 

新興領域封裝: 傳感器、執(zhí)行器、微電機系統(tǒng)、納電機系統(tǒng)、微光電機系統(tǒng);光電子和發(fā)光二極管封裝;液晶顯示,無源元件,及射頻、功率、高壓器件;基于納米線、納米管、高分子聚合物的納米器件等。 

封裝材料與工藝: 鍵合絲、焊錫、芯片下填料、塑封料、粘接劑、薄膜材料、介電材料、基板材料和導熱材料的最新進展;綠色電子材料、納米材料和其它能夠提高封裝性能和降低成本的新型材料;以及各種各樣的封裝與組裝工藝。 

封裝設備及先進制造技術: 新型的封裝和組裝制造設備;質量監(jiān)控、工藝過程控制及針對新興領域封裝的相關封裝設備/測量方法的進展;光刻、激光加工技術;提升可制造性和良品率、降低成本及改善使用可靠性的新型封裝/組裝技術;及用于工藝有效性模擬和監(jiān)控,成本分析等相關的先進方法/軟件。

質量與可靠性控制: 封裝/組裝制造質量監(jiān)視與質量評估;用于快速可靠性數據收集和分析,可靠性模擬和壽命預測的先進方法/技術/軟件;新型領域封裝技術中的相關可靠性問題;及新的失效分析的方法/技術/工具。 

會議形式:專題講座、大會報告、分會報告論文張貼、展覽展示等


二、 
大會組織機構


會議指導單位:

 

中國電子學會                                  中華人民共和國工業(yè)和信息化部電子信息司

中華人民共和國教育部高等教育司         中國科技部高新技術發(fā)展及產業(yè)化司

西安市人民政府工業(yè)與信息化委員會     中國國際文化交流中心

 

會議主辦單位:

中國電子學會生產技術學分會電子封裝專委會(CEPS    

國際電子與電氣工程師協(xié)會元件制造與封裝分會(IEEE-CPMT

西安電子科技大學

西安微電子研究所(771所)

會議承辦單位:

西安電子科技大學

西安微電子研究所(771所)

北京菲爾斯信息咨詢有限公司

大會主席:

畢克允    中國電子學會副總監(jiān)

中國電子學會生產技術學分會電子封裝專委會理事長

中國半導體行業(yè)協(xié)會副理事長、封裝分會理事長

顧問委員會:

 

 

十、會議組委會聯系方式

北京:

聯系人: 張爽    黃行早   

電話:010-64655241  64674511   傳真:010-64676495

Email: faith_epe@sohu.net

地址:北京市朝陽區(qū)安貞里二區(qū)一號樓金甌大廈418室(100029

上海:

聯系人: 張軍營    黃剛   

電話:021-38953725  38953726   傳真:021-38953726   

Email: zjy02711@163.com.  

地址:上海市張江科苑路2012103室(201203



關鍵詞: IC 封裝測試

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