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晶體管、MOS管、IGBT辨別與區(qū)分
- 晶體管、MOS管、IGBT管是常見的電力電子控制器件。電流觸發(fā)晶體管只能控制開啟,不能控制關(guān)閉屬于半可控件;電壓觸發(fā)MOS管、IGBT管既可以控制開啟,也可以控制關(guān)斷屬于全可控件。搞懂控件的特點(diǎn)對(duì)電力電子器件維修尤為重要,小編根據(jù)所學(xué)及理解做如下總結(jié),希望能給大家一些幫助。一、晶閘管 1、別名:可控硅是一種大功率半導(dǎo)體器件,常用做交流開關(guān),觸發(fā)電流>50毫安 2、特點(diǎn):體積小、重量輕、無噪聲、壽命長、容量大、耐高壓、耐大電流、大功率 3、主要應(yīng)用領(lǐng)域:整流、逆變、變頻、斬波(直流-
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萬用表測(cè)試MOS管使用及更換總是很難?看看這個(gè)吧?。ǘ?/a>
- 現(xiàn)在由于生產(chǎn)工藝的進(jìn)步,出廠的篩選、檢測(cè)都很嚴(yán)格,我們一般判斷只要判斷MOS管不漏電、不擊穿短路、內(nèi)部不斷路、能放大就可以了,方法極為簡單: 采用萬用表的R×10K擋;R×10K擋內(nèi)部的電池一般是9V加1.5V達(dá)到10.5V這個(gè)電壓一般判斷PN結(jié)點(diǎn)反相漏電是夠了,萬用表的紅表筆是負(fù)電位(接內(nèi)部電池的負(fù)極),萬用表的黑表筆是正電位(接內(nèi)部電池的正極),如上圖所示?! ?)測(cè)試步驟: 把紅表筆接到MOS管的源極S;把黑表筆接到MOS管的漏極D,此時(shí)表針指示應(yīng)該為無窮大,如下圖所示。如果有歐姆指數(shù),說明
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六個(gè)可能讓MOS管失效的原因分析

- 目前在市場(chǎng)應(yīng)用方面,排名第一的是消費(fèi)類電子電源適配器產(chǎn)品。而MOS管的應(yīng)用領(lǐng)域排名第二的是計(jì)算機(jī)主板、NB、計(jì)算機(jī)類適配器、LCD顯示器等產(chǎn)品,隨著國情的發(fā)展計(jì)算機(jī)主板、計(jì)算機(jī)類適配器、LCD顯示器對(duì)MOS管的需求有要超過消費(fèi)類電子電源適配器的現(xiàn)象了。 第三的就屬網(wǎng)絡(luò)通信、工業(yè)控制、汽車電子以及電力設(shè)備領(lǐng)域了,這些產(chǎn)品對(duì)于MOS管的需求也是很大的,特別是現(xiàn)在汽車電子對(duì)于MOS管的需求直追消費(fèi)類電子了。 下面對(duì)MOS失效的原因總結(jié)以下六點(diǎn),然后對(duì)1,2重點(diǎn)進(jìn)行分析: 雪崩失效(電壓失效),也就
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用結(jié)點(diǎn)溫度評(píng)估器件可靠性的案例分析

- 工程師在設(shè)計(jì)一款產(chǎn)品時(shí)用了一顆9A的MOS管,量產(chǎn)后發(fā)現(xiàn)壞品率偏高,經(jīng)重新計(jì)算分析后,換成了一顆5A的MOS管,問題解決。為什么用電流裕量更小的器件,卻能提高可靠性呢? 工程師在設(shè)計(jì)的過程中非常注意元器件性能上的裕量,卻很容易忽視熱耗散設(shè)計(jì),案例分析我們放到最后說,為了幫助理解,我們先引入一個(gè)概念: 其中Tc為芯片的外殼溫度,PD為芯片在該環(huán)境中的耗散功率,Tj表示芯片的結(jié)點(diǎn)溫度,目前大多數(shù)芯片的結(jié)點(diǎn)溫度為150℃,Rjc表示芯片內(nèi)部至外殼的熱阻,Rcs表示外殼至散熱片的熱阻,Rsa表示散熱片到
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開關(guān)電源變壓器溫升過高問題改善方法
- 在開關(guān)電源變壓器的工作過程中,工程師不僅需要綜合考慮其設(shè)計(jì)構(gòu)造的合理性問題,還需要嚴(yán)格把控其溫升范圍,以免出現(xiàn)溫升過高導(dǎo)致工作效率下降的問題
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MOS管驅(qū)動(dòng)電路詳解
- 使用MOS管設(shè)計(jì)開關(guān)電源或者馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電路的時(shí)候,大部分人都會(huì)考慮MOS的導(dǎo)通電阻,最大電壓等,最大電流等,也有很多人僅僅考慮這些因素。這樣的電路也
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MOS管入門——只談應(yīng)用,不談原理

- 1、三個(gè)極怎么判定 G極(gate)—柵極,不用說比較好認(rèn) S極(source)—源極,不論是P溝道還是N溝道,兩根線相交的就是 D極(drain)—漏極,不論是P溝道還是N溝道,是單獨(dú)引線的那邊
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MOS管功率損耗竟然還可以這么測(cè)

- MOSFET/IGBT的開關(guān)損耗測(cè)試是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié),但很多工程師對(duì)開關(guān)損耗的測(cè)量還停留在人工計(jì)算的感性認(rèn)知上,PFC?MOSFET的開關(guān)損耗更是只能依據(jù)口口相傳的經(jīng)驗(yàn)反復(fù)摸索,那么該如何量化評(píng)估呢? 1.1功率損耗的原理圖和實(shí)測(cè)圖 一般來說,開關(guān)管工作的功率損耗原理圖如圖?1所示,主要的能量損耗體現(xiàn)在“導(dǎo)通過程”和“關(guān)閉過程”,小部分能量體現(xiàn)在“導(dǎo)通狀態(tài)”,而關(guān)閉狀態(tài)的損耗很小幾乎為0,可以忽略不計(jì)?! ?? 圖?1開關(guān)管工作的功
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mos管介紹
mos管是金屬(metal)—氧化物(oxid)—半導(dǎo)體(semiconductor)場(chǎng)效應(yīng)晶體管。或者稱是金屬—絕緣體(insulator)—半導(dǎo)體。
雙極型晶體管把輸入端電流的微小變化放大后,在輸出端輸出一個(gè)大的電流變化。雙極型晶體管的增益就定義為輸出輸入電流之比(beta)。另一種晶體管,叫做場(chǎng)效應(yīng)管(FET),把輸入電壓的變化轉(zhuǎn)化為輸出電流的變化。FET的增益等于它的transc [ 查看詳細(xì) ]
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