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dft掃描芯片測(cè) 文章 最新資訊

基于掃描的DFT對(duì)芯片測(cè)試的影響

  • 隨著ASIC電路結(jié)構(gòu)和功能的日趨復(fù)雜，與其相關(guān)的測(cè)試問(wèn)題也日益突出。在芯片測(cè)試方法和測(cè)試向量生成的研究過(guò)程中,如何降低芯片的測(cè)試成本已
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dft掃描芯片測(cè)介紹

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