- 1.概述：整合性內存自我測試電路產生環(huán)境-Brains Brains是從整體的芯片設計切入，利用硬件架構共享的觀念，可以大幅減少測試電路的門數?(Gate?Count)，并且讓使用者能輕易產生優(yōu)化的BIST電路。Brains可以自動的判讀內存并將其分群?(Grouping)，從產品設計前端大幅提升測試良率、降低測試成本，提高產業(yè)競爭力。Brains的五級到七級的彈性化管線式架構，可以滿足快速內存測試的需求，目前最高測試的速度已經可以達到1.2GHz，整體BIST電路的門
- 關鍵字：
內存測試 Brains
- 2010年9月，英飛凌科技股份公司與19家合作伙伴攜手合作，啟動了歐洲e-BRAINS（最可靠的環(huán)境智能納米傳感器系統(tǒng)）研究項目，圍繞異構系統(tǒng)的集成展開研究。這個項目由英飛凌和弗勞恩霍夫模塊化固態(tài)技術研究所負責技術管理，將于2013年底完成。納米傳感器將與IC（集成電路）、功率半導體、電池或無線通信模塊等組件結合使用，從而大幅提升e-BRAINS應用的能源效率、成本效益、使用壽命和運行可靠性。
- 關鍵字：
英飛凌 e-BRAINS
brains介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條brains!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對brains的理解，并與今后在此搜索brains的朋友們分享。
創(chuàng)建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業(yè)會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網安備11010802012473
