電容 文章 最新資訊
初創(chuàng)公司的模擬AI承諾為PC提供強大功能
- Naveen Verma?在普林斯頓大學的實驗室就像一個博物館,展示了工程師們試圖通過使用模擬現(xiàn)象而不是數(shù)字計算來提高 AI 超高效的所有方法。一個工作臺上是有史以來最節(jié)能的基于磁記憶的神經(jīng)網(wǎng)絡計算機。在另一個位置,您會發(fā)現(xiàn)一個基于電阻存儲器的芯片,它可以計算迄今為止任何模擬 AI?系統(tǒng)中最大的數(shù)字矩陣。Verma 表示,兩者都沒有商業(yè)前景。不那么仁慈的是,他實驗室的這一部分是一個墓地。多年來,Analog AI?一直吸引著芯片架構(gòu)師的想象力。它結(jié)合了兩個關鍵概念,這兩個概念
- 關鍵字: EnCharge AI 電容 半導體元件 模擬AI
去耦電容:原理、選型、容值計算、布局布線
- 電源完整性在現(xiàn)今的電子產(chǎn)品中相當重要。有幾個有關電源完整性的層面:芯片層面、芯片封裝層面、電路板層面及系統(tǒng)層面。在電路板層面的電源完整性要達到以下三個需求:1、使芯片引腳的電壓噪聲+電壓紋波比規(guī)格要求要小一些(例如芯片電源管腳的輸入電壓要求1V之間的誤差小于+/-50 mV)2、控制接地反彈(地彈)(同步切換噪聲SSN、同步切換輸出SSO)3、降低電磁干擾(EMI)并且維持電磁兼容性(EMC):電源分布網(wǎng)絡(PDN)是電路板上最大型的導體,因此也是最容易發(fā)射及接收噪聲的天線?!暗貜棥保侵感酒瑑?nèi)部“地”電
- 關鍵字: 電容 去耦電容 PCB設計
說說電容噪聲嘯叫的問題
- MLCC——多層片式陶瓷電容器,簡稱貼片電容,會引起噪聲嘯叫問題,這是為什么了?聲音源于物體振動,振動頻率為20Hz~20 kHz的聲波能被人耳識別。MLCC發(fā)出嘯叫聲音,即是說,MLCC在電壓作用下發(fā)生幅度較大的振動(微觀的較大,小于1nm)。MLCC為什么會振動?在了解MLCC為什么要振動之前,我們要先了解一種自然現(xiàn)象,在外電場作用下,所有的物質(zhì)都會產(chǎn)生伸縮形變——電致伸縮。對于某些高介電常數(shù)的鐵電材料,電致伸縮效應劇烈,稱為——壓電效應。壓電效應的定義:在沒有對稱中心的晶體上施加壓力、張力和切向力時
- 關鍵字: 電容 無源器件 電路設計
一文讀懂 MLCC 電應力擊穿,硬件工程師必備知識
- 在電子設備的硬件設計中,多層陶瓷電容器(MLCC)是極為常見且關鍵的電子元件。它以其體積小、容量大、等效串聯(lián)電阻低等優(yōu)勢,廣泛應用于各類電路。然而,MLCC 在工作過程中可能會遭遇電應力擊穿問題,這不僅影響設備的性能,還可能導致嚴重的失效。對于硬件工程師而言,深入了解 MLCC 電應力擊穿機理,掌握失效分析方法和可靠性設計要點,是確保電子設備穩(wěn)定運行的關鍵。一、陶瓷電容的基本結(jié)構(gòu)片式多層陶瓷電容器的結(jié)構(gòu)主要包括三大部分:陶瓷介質(zhì),金屬內(nèi)電極,金屬外電極。在 其內(nèi)部,金屬電極層與陶瓷介質(zhì)層交替堆疊;金屬內(nèi)電
- 關鍵字: 電容 無源器件 電路設計
貼片電感失效原因分析
- 電感器失效模式:電感量和其他性能的超差、開路、短路。貼片功率電感失效原因:1.磁芯在加工過程中產(chǎn)生的機械應力較大,未得到釋放;2.磁芯內(nèi)有雜質(zhì)或空洞磁芯材料本身不均勻,影響磁芯的磁場狀況,使磁芯的磁導率發(fā)生了偏差;3.由于燒結(jié)后產(chǎn)生的燒結(jié)裂紋;4.銅線與銅帶浸焊連接時,線圈部分濺到錫液,融化了漆包線的絕緣層,造成短路;5.銅線纖細,在與銅帶連接時,造成假焊,開路失效。一、耐焊性低頻貼片功率電感經(jīng)回流焊后感量上升<20%。由于回流焊的溫度超過了低頻貼片電感材料的居里溫度,出現(xiàn)退磁現(xiàn)象。貼片電感退磁后,
- 關鍵字: 電容 無源器件 失效分析
電容介紹
電容是表征電容器容納電荷的本領的物理量。我們把電容器的兩極板間的電勢差增加1伏所需的電量,叫做電容器的電容。
電容的符號是C。在國際單位制里,電容的單位是法拉,簡稱法,符號是F。一個電容器,如果帶1庫的電量時兩級間的電勢差是1伏,這個電容器的電容就是1法。
電容的公式是:C=Q/U 但電容的大小不是由Q或U決定的,即:C=εS/4πkd 。ε是一個常數(shù),與電介質(zhì)的性質(zhì)有關。k [ 查看詳細 ]
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