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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試

您的接地很靠譜嗎？C 雷人至暈的測試故事(2)

  • 如果哪位仁兄沒有遇到過接地的問題，肯定不是干EE的! 在研發(fā)和測試過程中的接地都很重要。不良的接地，不僅可能導致錯誤的測量，甚至會損壞儀器和被測件。 例如， 在使用示波器時， 會看到很大的噪聲和詭異的波形，
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測電流就宕機，萬用表惹的禍？ C 雷人的測試故事(3)

  • 有一位仁兄，從事軍用計算機的測試工作。軍用計算機的要求與我們民用的有很大的區(qū)別。如果我們自己選用的PC機，我們關(guān)心的可能是CPU的速度、存儲器、內(nèi)存、顯卡等等。但軍用計算機需要考慮的首要問題，就是可靠性。
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電磁兼容測試實質(zhì)

  • 1、輻射發(fā)射測試測試電子、電氣和機電設(shè)備及其組件的輻射發(fā)射，包括來自所有組件、電纜及連線上的輻射發(fā)射，用來鑒定其輻射是否符合標準的要求，一致在正常使用過程中影響同一環(huán)境中的其他設(shè)備。2、傳導騷擾測試為了
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新能源汽車電機如何測試

  • 汽車換心行動是當下主流的趨勢，汽車的動力來源將由電機取代傳統(tǒng)的內(nèi)燃機，今天我們就來做一次別開生面的“大手術(shù)”。
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快充測試一鍵完成--費思負載應(yīng)用之快速充電器測試

  • 費思電子負載針對快速充電器的測試應(yīng)用：只要按一下按鍵，負載會自動開始測試，并對快速充電器進行輸出狀態(tài)改變觸發(fā)，配合輸出改變，完成各種輸出狀態(tài)的測試，自動完成測試，自動給出判斷?？焖俪潆娖鲬?yīng)用廣泛，是未
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25Gbps以上高速串行總線的測試挑戰(zhàn)

  • 引言：當今由于電子產(chǎn)品對數(shù)據(jù)吞吐率要求越來越高，這使得信號傳輸速率也越來越高且往往需要多個通道同時傳輸，這給測試帶來了很大的挑戰(zhàn)。當今由于電子產(chǎn)品對數(shù)據(jù)吞吐率要求越來越高，這使得信號傳輸速率也越來越高
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你所不知道的事――底噪關(guān)乎生產(chǎn)力！

  • 很多朋友都有購買耳機的經(jīng)驗，當我們穿梭在琳瑯滿目的電子市場中，各種造型和價位的耳機讓我們無所適從，有的耳機要價千元以上，而有的卻只賣幾元錢，差價令人咋舌。為何同樣是耳機，售價卻如此懸殊呢?除了品牌含金
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遠距離操作和測試腳本

  • 處理器的使用在進入實際測試實例之前，我們先討論用于此測試應(yīng)用的新儀器特性。2600系列源表具有強大的嵌入式計算機或測試腳本處理器，因而能實現(xiàn)在堆架式儀器中從未見過的功能?？梢詫⑼暾臏y試程序(腳本)下載至T
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實際不穩(wěn)定問題和穩(wěn)定方案

  • 圖1描述了實際系統(tǒng)對1A負載電流脈沖的電壓響應(yīng)(下面的曲線)。負載是阻性的，電纜長度可以忽略(負載直接連在電源輸出端)。負載電壓對負載電流脈沖上升沿和下降沿的響應(yīng)顯示了10mV壓降與10mV過沖。這非常接近于能夠?qū)?/li>
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電容器檢測技巧分享

  • 電容器檢測方法主要分為三個大類：可變電容器的檢測、電解電容器的檢測、固定電容器的檢測。1、可變電容器的檢測A用手輕輕旋動轉(zhuǎn)軸，應(yīng)感覺十分平滑，不應(yīng)感覺有時松時緊甚至有卡滯現(xiàn)象。將載軸向前、后、上、下、左
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通用變頻器在日常的維護事項

  • 伴隨著自動化領(lǐng)域的不斷向前發(fā)展，變頻器的應(yīng)用也深入到了各行各業(yè)各個領(lǐng)域，變頻器也在不斷地推陳出新，功能越來越強大，可靠性也相應(yīng)地越來越高。但是如果使用不當，操作有誤，維護不及時，仍會發(fā)生故障或運行狀況
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電路評估與測試 - 單電源、低功耗的可編程窗口檢測器

  • 電路評估與測試設(shè)備要求(可以用同等設(shè)備代替)EVAL-SDP-CB1Z系統(tǒng)演示平臺CN-0182電路評估板(EVAL-CN0182-SDZ)CN-0182評估軟件TektronixTDS2024，4通道示波器HP-E3630A0V至6V、2.55Aplusmn;20V、0.5A三路輸出直流電源
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高通面向半導體制造測試成立高通通訊技術(shù)公司

  • 　　Qualcomm Incorporated今日宣布成立高通通訊技術(shù)(上海)有限公司(Qualcomm Communication Technologies (Shanghai) Co. Ltd.) ，新公司位于上海外高橋自由貿(mào)易區(qū)，擁有半導體測試設(shè)施，這也是Qualcomm首次涉足半導體制造測試業(yè)務(wù)。通過與全球領(lǐng)先的半導體封裝和測試服務(wù)提供商Amkor Technologies, Inc.合作，新公司將Amkor豐富的測試服務(wù)經(jīng)驗和尖端的凈室設(shè)施與Qualcomm Technologies行業(yè)領(lǐng)先的前
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TCL嵌入式測試技術(shù)在數(shù)通領(lǐng)域的應(yīng)用

  • TCL嵌入式測試技術(shù)在數(shù)通領(lǐng)域的應(yīng)用,TCL (Tool Command Language)是一種解釋執(zhí)行的腳本語言(Scripting Language)，是業(yè)界主流自動化測試語言，修改后不需重新編譯，TCL解釋器直接執(zhí)行。在傳統(tǒng)的黑盒測試中，TCL也有大量應(yīng)用，測試模型如圖1所示原有自動
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測試市場總體規(guī)模在下降 NI卻保持兩位數(shù)增長

  • 　　目前黯淡的全球經(jīng)濟環(huán)境也正在沖擊測試測量行業(yè)的發(fā)展速度。在這幾天舉辦的NIWeek 2016上，不管是NI創(chuàng)始人兼CEO Dr. James Truchard，還是NI負責全球銷售和市場營銷的執(zhí)行副總裁Eric Starkloff，都異口同聲地說，目前全球總體測試測量市場規(guī)模在下降，但我們還能保持兩位數(shù)增長，在自動化、圖形化、分布式測試市場增速更快。 　　   　　圖1：NI創(chuàng)始人兼CEO Dr. James Truchard與筆者在NIWeek 　　Eric Starkloff
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測試介紹

　　中文名稱： 　　測試 　　英文名稱： 　　test 　　定義1： 　　對在受控條件下運動的裝備，進行其功能和性能的檢測。 　　應(yīng)用學科： 　　航空科技(一級學科);航空器維修工程(二級學科) 　　定義2： 　　用任何一種可能采取的方法進行的直接實際實驗。 　　應(yīng)用學科： 　　通信科技(一級學科);運行、維護與管理(二級學科) [ 查看詳細 ]
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