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基于多通道寬帶示波器的MIMO射頻測試調(diào)試

作者: 時間:2012-05-11 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
行比較,從而確定不同誤差機制對射頻發(fā)射機 EVM誤差的影響。例如,天線串擾可能不會影響RS EVM值,但會對復合EVM產(chǎn)生影響。另一方面,其他射頻發(fā)射機減損,例如相位噪聲和PA增益壓縮都可對RS EVM和復合EVM產(chǎn)生負面影響。

  總結(jié)

  四通道測量存在許多測試難題,使得故障診斷和調(diào)試變得更具挑戰(zhàn)性。本文介紹了發(fā)射天線定時誤差,此誤差有可能影響LTE 參考信號正交,從而影響天線串擾、星座圖和EVM 等測量結(jié)果。非常適合進行雙通道或四通道測量,并有助于診斷發(fā)射天線通道之間可能存在的定時誤差。通過結(jié)合使用和VSA軟件,工程師能夠從多個不同方面對MIMO信號進行測量和分析:時域、頻域和調(diào)制域,根據(jù)測量結(jié)果對硬件性能問題進行故障診斷和隔離。通過對比RS EVM和復合 EVM,工程師能夠了解不同誤差機制(例如相位噪聲、天線串擾、PA增益壓縮)對射頻發(fā)射機EVM誤差的影響。


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