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如何準(zhǔn)確選擇功率器件二

作者: 時(shí)間:2012-12-21 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
第三步:確定熱要求

  選擇MOSFET的下一步是計(jì)算系統(tǒng)的散熱要求。設(shè)計(jì)人員必須考慮兩種不同的情況,即最壞情況和真實(shí)情況。建議采用針對(duì)最壞情況的計(jì)算結(jié)果,因?yàn)檫@個(gè)結(jié)果提供更大的安全余量,能確保系統(tǒng)不會(huì)失效。在MOSFET的資料表上還有一些需要注意的測(cè)量數(shù)據(jù);比如封裝器件的半導(dǎo)體結(jié)與環(huán)境之間的熱阻,以及最大的結(jié)溫。

  器件的結(jié)溫等于最大環(huán)境溫度加上熱阻與功率耗散的乘積(結(jié)溫=最大環(huán)境溫度+[熱阻×功率耗散])。根據(jù)這個(gè)方程可解出系統(tǒng)的最大功率耗散,即按定義相等于I2×RDS(ON)。由于設(shè)計(jì)人員已確定將要通過(guò)器件的最大電流,因此可以計(jì)算出不同溫度下的RDS(ON)。值得注意的是,在處理簡(jiǎn)單熱模型時(shí),設(shè)計(jì)人員還必須考慮半導(dǎo)體結(jié)/器件外殼及外殼/環(huán)境的熱容量;即要求印刷電路板和封裝不會(huì)立即升溫。

  雪崩擊穿是指半導(dǎo)體器件上的反向電壓超過(guò)最大值,并形成強(qiáng)電場(chǎng)使器件內(nèi)電流增加。該電流將耗散功率,使器件的溫度升高,而且有可能損壞器件。半導(dǎo)體公司都會(huì)對(duì)器件進(jìn)行雪崩測(cè)試,計(jì)算其雪崩電壓,或?qū)ζ骷姆€(wěn)健性進(jìn)行測(cè)試。計(jì)算額定雪崩電壓有兩種方法;一是統(tǒng)計(jì)法,另一是熱計(jì)算。而熱計(jì)算因?yàn)檩^為實(shí)用而得到廣泛采用。除計(jì)算外,技術(shù)對(duì)雪崩效應(yīng)也有很大影響。例如,晶片尺寸的增加會(huì)提高抗雪崩能力,最終提高器件的穩(wěn)健性。對(duì)最終用戶而言,這意味著要在系統(tǒng)中采用更大的封裝件。

  第四步:決定開(kāi)關(guān)性能

  選擇MOSFET的最后一步是決定MOSFET的開(kāi)關(guān)性能。影響開(kāi)關(guān)性能的參數(shù)有很多,但最重要的是柵極/漏極、柵極/源極及漏極/源極電容。這些電容會(huì)在器件中產(chǎn)生開(kāi)關(guān)損耗,因?yàn)樵诿看伍_(kāi)關(guān)時(shí)都要對(duì)它們充電。MOSFET的開(kāi)關(guān)速度因此被降低,器件效率也下降。為計(jì)算開(kāi)關(guān)過(guò)程中器件的總損耗,設(shè)計(jì)人員必須計(jì)算開(kāi)通過(guò)程中的損耗(Eon)和關(guān)閉過(guò)程中的損耗(Eoff)。MOSFET開(kāi)關(guān)的總功率可用如下方程表達(dá):Psw=(Eon+Eoff)×開(kāi)關(guān)頻率。而柵極電荷(Qgd)對(duì)開(kāi)關(guān)性能的影響最大。

  基于開(kāi)關(guān)性能的重要性,新的技術(shù)正在不斷開(kāi)發(fā)以解決這個(gè)開(kāi)關(guān)問(wèn)題。芯片尺寸的增加會(huì)加大柵極電荷;而這會(huì)使器件尺寸增大。為了減少開(kāi)關(guān)損耗,新的技術(shù)如溝道厚底氧化已經(jīng)應(yīng)運(yùn)而生,旨在減少柵極電荷。

  通過(guò)了解MOSFET的類(lèi)型及了解和決定它們的重要性能特點(diǎn),設(shè)計(jì)人員就能針對(duì)特定設(shè)計(jì)選擇正確的MOSFET。由于MOSFET是電氣系統(tǒng)中最基本的部件之一,選擇正確的MOSFET對(duì)整個(gè)設(shè)計(jì)是否成功起著關(guān)鍵的作用。
IGBT的正確選擇和使用

  本文研究了逆變器核心開(kāi)關(guān)器件IGBT主要參數(shù)的選擇, 分析三相逆變電路拓?fù)浼?a class="contentlabel" href="http://www.2s4d.com/news/listbylabel/label/功率器件">功率器件IGBT的應(yīng)用特點(diǎn),根據(jù)其特點(diǎn)選擇合適額定電壓,額定電流和開(kāi)關(guān)參數(shù)。以及優(yōu)化設(shè)計(jì)柵電壓,克服Miller效應(yīng)的影響,確保在IGBT應(yīng)用過(guò)程中的可靠性。

  0 前言

  伴隨科學(xué)技術(shù)的發(fā)展和低碳經(jīng)濟(jì)的要求,逆變器在各行各業(yè)中應(yīng)用飛速發(fā)展,而IGBT是目前逆變器中使用的主流開(kāi)關(guān)器件,也在逆變結(jié)構(gòu)中起核心作用。采用IGBT進(jìn)行功率變換,能夠提高用電效率,改善用電質(zhì)量。新型IGBT逆變技術(shù)是推動(dòng)我國(guó)低碳經(jīng)濟(jì)發(fā)展戰(zhàn)略的突破口,同時(shí)緩解能源,資源和環(huán)境等方面的壓力,加快轉(zhuǎn)變經(jīng)濟(jì)增長(zhǎng)方式,促進(jìn)信息化帶動(dòng)工業(yè)化, 提高國(guó)家經(jīng)濟(jì)安全性,起著重要作用,因此,IGBT在逆變器中的正確選擇與使用,有著舉足輕重的作用。逆變技術(shù)對(duì)IGBT的參數(shù)要求并不是一成不變的,逆變技術(shù)已從硬開(kāi)關(guān)技術(shù),移相軟開(kāi)關(guān)技術(shù)發(fā)展到雙零軟開(kāi)關(guān)技術(shù),各個(gè)技術(shù)之間存在相輔相成的紐帶關(guān)系, 同時(shí)具有各自的應(yīng)用電路要求特點(diǎn),因而,對(duì)開(kāi)關(guān)器件的IGBT的要求各不相同。而IGBT正確選擇與使用尤為重要。

  1 IGBT額定電壓的選擇

  三相380V輸入電壓經(jīng)過(guò)整流和濾波后,直流母線電壓的最大值:

  如何準(zhǔn)確選擇功率器件二

  在開(kāi)關(guān)工作的條件下,fGBT的額定電壓一般要求高于直流母線電壓的兩倍,根據(jù)IGBT規(guī)格的電壓等級(jí),選擇1 200V電壓等級(jí)的IGBT。

  2 IGBT額定電流的選擇

  以30kW變頻器為例,負(fù)載電流約為79A,由于負(fù)載電氣啟動(dòng)或加速時(shí),電流過(guò)載,一般要求1分鐘的時(shí)間內(nèi),承受1.5倍的過(guò)流,擇最大負(fù)載電流約為119A ,建議選擇150A電流等級(jí)的IGBT。

  3 IGBT開(kāi)關(guān)參數(shù)的選擇

  變頻器的開(kāi)關(guān)頻率一般小于10 kH Z,而在實(shí)際工作的過(guò)程中,fGBT的通態(tài)損耗所占比重比較大,建議選擇低通態(tài)型IGBT,以30 kW ,逆變頻率小于10kH z的變頻器為例,選擇IGBT的開(kāi)關(guān)參數(shù)見(jiàn)表1。

  如何準(zhǔn)確選擇功率器件二

  4 影響IGBT可靠性因素

  1)柵電壓。

  IGBT工作時(shí),必須有正向柵電壓,常用的柵驅(qū)動(dòng)電壓值為15~187,最高用到20V, 而棚電壓與柵極電阻Rg有很大關(guān)系,在設(shè)計(jì)IGBT驅(qū)動(dòng)電路時(shí), 參考IGBT Datasheet中的額定Rg值,設(shè)計(jì)合適驅(qū)動(dòng)參數(shù),保證合理正向柵電壓。因?yàn)镮GBT的工作狀態(tài)與正向棚電壓有很大關(guān)系,正向柵電壓越高,開(kāi)通損耗越小,正向壓降也咯小。

  在橋式電路和大功率應(yīng)用情況下,為了避免干擾,在IGBT關(guān)斷時(shí),柵極加負(fù)電壓,一般在-5- 15V,保證IGBT的關(guān)斷,避免Miller效應(yīng)影響。

  2)Miller效應(yīng)。

  為了降低Miller效應(yīng)的影響,在IGBT柵驅(qū)動(dòng)電路中采用改進(jìn)措施:(1)開(kāi)通和關(guān)斷采用不同柵電阻Rg,on和Rg,off,確保IGBT的有效開(kāi)通和關(guān)斷;(2)柵源間加電容c,對(duì)Miller效應(yīng)產(chǎn)生的電壓進(jìn)行能量泄放;(3)關(guān)斷時(shí)加負(fù)柵壓。在實(shí)際設(shè)計(jì)中,采用三者合理組合,對(duì)改進(jìn)Mille r效應(yīng)的效果更佳。

結(jié)論

 ?。?)IGBT是逆變器主要使用的主要功率開(kāi)關(guān)器件,也是逆變器中主要工作器件,合理選擇IGBT是保證IGBT可靠工作的前提,同時(shí),要根據(jù)三相逆變電路結(jié)構(gòu)的特點(diǎn),選擇低通態(tài)型IGBT為佳。
主要參數(shù)如下

  Vce

  ICM

  ILM

  IC @ TC = 25°C

  IC @ TC = 100°C

  IF @ TC = 25°C

  IF @ TC = 100°C

  IFM(Diode Max Forward Current)

  VGE

  以上參數(shù)主要決定了所選擇管子的規(guī)格。其中耐壓、耐流和耐最大沖擊電流能力都需要特別關(guān)注,特別是電源中有開(kāi)機(jī)的inrush current一般會(huì)很大,需要較大的ICM.驅(qū)動(dòng)電壓多少我不用多說(shuō)了,一定溫度下電流通流能力是做一個(gè)很重要的參數(shù),直接關(guān)系到你做halt試驗(yàn)結(jié)果。

  PD @ TC = 25°C

  PD @ TC = 100°C

  Rθjc( IGBT)

  Rθjc(Diode)

  Rθcs(Case-to-Sink.。.)

  Rθja(Junction-to-Ambient.。.)

  以上直接決定擬所選擇管子的熱設(shè)計(jì),知道以上參數(shù)可以推算出junction的溫度,也就是溫度最高點(diǎn)的溫度

  VCE(on)

  VFM

  Diode Forward Voltage Drop

  Eon

  Eoff

  Etot

  Eon

  Eoff

  Etot

  Td(on)

  Tr

  Td(off)

  Tf

  Trr

  Irr

  以上參數(shù)直接關(guān)系到你計(jì)算管子的損耗計(jì)算,是前期研發(fā)的重要參數(shù),直接關(guān)系到你估計(jì)的損耗,接合熱阻等概念,直接可以大概估計(jì)你所選擇管子的熱設(shè)計(jì)如何選擇。

  最后當(dāng)然還有個(gè)重要的參數(shù)就是價(jià)格了。

  以上我列出了的igbt 和mosfet的項(xiàng)目中帶有體內(nèi)二極管,如果沒(méi)有體內(nèi)二極管的管子,你當(dāng)然應(yīng)知道該如何處理

 ?。?)根據(jù)IGBT的棚特性。合理設(shè)計(jì)柵驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu), 保證IGBT有效的開(kāi)通和關(guān)斷, 降低Miller效應(yīng)的影響。



關(guān)鍵詞: 功率器件

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