新聞中心

EEPW首頁 > 模擬技術(shù) > 設(shè)計應(yīng)用 > 運算放大器之開環(huán)增益

運算放大器之開環(huán)增益

作者: 時間:2013-11-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
宋體, arial; WHITE-SPACE: normal; ORPHANS: 2; LETTER-SPACING: normal; COLOR: rgb(0,0,0); WORD-SPACING: 0px; PADDING-TOP: 0px; -webkit-text-size-adjust: auto; -webkit-text-stroke-width: 0px">  下圖1中,第一個示例中噪聲增益為1000,可以看出,為200萬時,閉環(huán)增益誤差約為0.05%。注意,若溫度、輸出負(fù)載和電壓變化時保持不變,0.05%的增益誤差很容易通過校準(zhǔn)從測量結(jié)果中去除,這樣就不存在整體系統(tǒng)增益誤差。但是,若改變,由此產(chǎn)生的閉環(huán)增益也會改變。這就導(dǎo)致了增益不確定性。在第二個示例中,AVOL減少至30萬,產(chǎn)生的增益誤差為0.33%。這種情況會使閉環(huán)增益中產(chǎn)生0.28%的增益不確定性。大多數(shù)應(yīng)用中,使用良好的時,電路的增益電阻是絕對增益誤差的最大來源,但是應(yīng)注意,增益不確定性不能通過校準(zhǔn)去除。

  

運算放大器之開環(huán)增益

  圖1:開環(huán)增益變化導(dǎo)致閉環(huán)增益不確定性

  輸出電平和輸出負(fù)載的變化是導(dǎo)致開環(huán)增益變化的最常見原因。開環(huán)增益中信號電平的變化會導(dǎo)致閉環(huán)增益?zhèn)鬟f函數(shù)的非線性,也無法在系統(tǒng)校準(zhǔn)過程中去除。大多數(shù)都有固定負(fù)載,因此負(fù)載的AVOL變化一般不重要。但是,AVOL對輸出信號電平的靈敏度在負(fù)載電流較高時可能會上升。

  非線性的嚴(yán)重程度在不同類型的器件中變化很大,數(shù)據(jù)手冊中一般不會明確規(guī)定。但是通常會規(guī)定最小AVOL,選擇高AVOL的放大器可以將增益非線性誤差的發(fā)生概率降至最低。增益非線性的來源有很多,具體取決于運算放大器的設(shè)計。其中一個常見來源是熱反饋(例如從熱輸出級反饋至輸入級)。如果溫度變化是非線性誤差的唯一原因,減小輸出負(fù)載可能會有所幫助。為了驗證這一點,需要在空載條件下測量非線性,然后與負(fù)載條件下進(jìn)行比較。

下圖2所示為測量直流開環(huán)增益非線性的示波器X-Y顯示測試電路。前文討論的與失調(diào)電壓測試電路相關(guān)的防范措施在該電路中也應(yīng)注意。放大器的信號增益設(shè)置為–1。開環(huán)增益定義為輸出電壓的變化除以輸入失調(diào)電壓的變化。但是,AVOL值較大時,實際失調(diào)電壓在整個輸出電壓擺幅內(nèi)可能只改變幾微伏。因此,采用10Ω電阻和RG(1 MΩ)組成的除法器時,節(jié)點電壓VY按以下公式計算:

  

運算放大器之開環(huán)增益

  選擇RG值是為了使VY獲得可測量的電壓,具體取決于VOS的預(yù)期值。

  

運算放大器之開環(huán)增益

  圖2:測量開環(huán)增益非線性的電路

  ±10 V斜波發(fā)生器輸出乘以–1的信號增益后,會使得運算放大器輸出電壓VX在+10 V到–10 V之間擺動。因為失調(diào)電壓添加了增益系數(shù),所以需要增加失調(diào)調(diào)整電位計,將初始輸出失調(diào)設(shè)置為零。選擇的電阻值可以抵消高達(dá)±10 mV的輸入失調(diào)電壓。電位計的每一端都應(yīng)采用穩(wěn)定的10 V基準(zhǔn)電壓源(如AD688),以防止輸出漂移。還應(yīng)注意,由于開環(huán)增益的轉(zhuǎn)折頻率較低,斜坡發(fā)生器頻率必須很低,可能不超過1Hz的幾分之一(例如,OP177為0.1Hz)。

  圖2右側(cè)的坐標(biāo)圖所示為VY與VX的關(guān)系圖。如果不存在增益非線性,則圖中所示應(yīng)為斜率不變的直線,AVOL按以下公式計算:

電子管相關(guān)文章:電子管原理


pa相關(guān)文章:pa是什么




關(guān)鍵詞: 運算 放大器 開環(huán)增益

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉