電子可靠性技術(shù):最壞情況分析方法（一）
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開發(fā)最壞情況器件數(shù)據(jù)庫是WCCA的一個(gè)重要工作，也是主要的成本所在。此工作的目標(biāo)是開發(fā)一個(gè)最壞情況數(shù)據(jù)庫的表格，給出器件關(guān)鍵參數(shù)變化的最大最小值。這個(gè)表格也給出了影響參數(shù)變化的因素，如環(huán)境、初始容差、溫度、壽命和輻射等。表格還會(huì)注明這些因素是偏置型的，還是隨機(jī)型的變量。此外，表格中還必須包括數(shù)據(jù)來源(美軍標(biāo)、供應(yīng)商數(shù)據(jù)手冊(cè)等)，以備跟蹤。總之，這個(gè)表格體現(xiàn)了器件工作的各種環(huán)境因素和壽命因素對(duì)器件參數(shù)影響的一個(gè)量化評(píng)估。
評(píng)論