新聞中心

EEPW首頁(yè) > 測(cè)試測(cè)量 > 新品快遞 > 英國(guó)ABI推出適合中小企業(yè)應(yīng)用的集成電路篩選測(cè)試儀

英國(guó)ABI推出適合中小企業(yè)應(yīng)用的集成電路篩選測(cè)試儀

—— 全品種IC測(cè)試,解決企業(yè)測(cè)試難題
作者: 時(shí)間:2011-06-29 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏
       日前,來(lái)自英國(guó)公司的AT系列全品種集成電路篩選測(cè)試儀正式進(jìn)入中國(guó)市場(chǎng),AT系列產(chǎn)品目前推出2款型號(hào):AT192/AT256;它們分別可以一次測(cè)試192管腳和256管腳的器件。全品種測(cè)試,是這個(gè)產(chǎn)品的突出優(yōu)勢(shì),無(wú)論被測(cè)器件是數(shù)字、模擬、還是數(shù)?;旌想娐?,都可以在這個(gè)設(shè)備上順利快捷地完成測(cè)試篩選。

       隨著集成電路技術(shù)的突飛猛進(jìn),集成電路的規(guī)模和管腳數(shù)越來(lái)越大,傳統(tǒng)的集成電路測(cè)試設(shè)備只能檢測(cè)中小規(guī)模集成電路,且受測(cè)試設(shè)備器件庫(kù)的限制,測(cè)試種類少,測(cè)試成本高,集成電路可測(cè)率低是傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備的弊端。傳統(tǒng)的集成電路測(cè)試設(shè)備已經(jīng)不能適應(yīng)目前集成電路發(fā)展的測(cè)試要求,目前中小規(guī)模的電子生產(chǎn)企業(yè)的集成電路測(cè)試與篩選是企業(yè)質(zhì)量管理的薄弱環(huán)節(jié),企業(yè)要提高產(chǎn)品質(zhì)量,迫切的需要一種全品種、可測(cè)率高的集成電路篩選測(cè)試儀。英國(guó)公司適時(shí)地推出了滿足企業(yè)需求的全品種集成電路篩選測(cè)試儀。該產(chǎn)品的推出,解決了目前企業(yè)常規(guī)的集成電路入庫(kù)篩選、后期元器件失效分析等測(cè)試難題。
 
AT192/256集成電路篩選測(cè)試儀適用范圍:

1) 生產(chǎn)企業(yè)的元器件的批量檢測(cè)及篩選測(cè)試
2) 元器件的翻新品及仿制品的篩選測(cè)試與驗(yàn)證防范
3) 科研、教學(xué)機(jī)構(gòu)對(duì)元器件特性的分析與測(cè)試
4) 生產(chǎn)環(huán)節(jié)的電路板的批量測(cè)試與檢測(cè)
5) 維修環(huán)節(jié)的電路板檢測(cè)與元器件的測(cè)試,失效元件的分析
6) 電子生產(chǎn)企業(yè)電子元器件的來(lái)料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選。
7) 成品質(zhì)量控制的一致性的檢測(cè)
8) 電子生產(chǎn)企業(yè)的產(chǎn)品與元器件質(zhì)量控制檢測(cè)
9) 適合所有元器件與電路板的測(cè)試與分析

AT192/256集成電路篩選測(cè)試儀適合所有元器件的測(cè)試:

用于包羅所有類型的元器件,從簡(jiǎn)單的兩腳元器件到更復(fù)雜的封裝, 如:
- 雙列插腳(DIL)
- 小型封裝集成組件(SOIC)
- 小型封裝(SSOP, TSOP)
- 塑料無(wú)引線芯片載體封裝(PLCC)
- 四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)
- 球門陣列封裝(BGA)等

AT192/256集成電路篩選測(cè)試儀特點(diǎn):

1)中文操作軟件,軟件好安裝,操作簡(jiǎn)單!
2)內(nèi)建各種類型的封裝庫(kù),經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單的培訓(xùn),不需要電子專業(yè)知識(shí),即可投入使用
3)適用于所有封裝型式的元器件,試用各種類型的元器件
4)測(cè)試結(jié)果直接顯示:PASS或FAIL軟件可設(shè)定測(cè)試的結(jié)果的通過(guò)門限
5)完整的分析報(bào)告,直接顯示失效管腳與可疑管腳的圖像,統(tǒng)計(jì)失效與可疑管腳
6)測(cè)試結(jié)果精準(zhǔn)可靠,可以任意組合為多達(dá)百種測(cè)試條件,保證了測(cè)試的可靠
7)快速圖形化的編輯軟件,用戶可以方便的快速擴(kuò)充測(cè)試元件庫(kù)

電路相關(guān)文章:電路分析基礎(chǔ)


pic相關(guān)文章:pic是什么


網(wǎng)線測(cè)試儀相關(guān)文章:網(wǎng)線測(cè)試儀原理


關(guān)鍵詞: ABI IC

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉