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XL4001 XL4002 XL4102 XL4101 典型應(yīng)用電路

  • XL4001 典型應(yīng)用電路XL4002 典型應(yīng)用電路XL4102典型應(yīng)用電路XL4101 典型應(yīng)用電路
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基于Verilog的順序狀態(tài)邏輯FSM的設(shè)計(jì)與仿真

  • 基于Verilog的順序狀態(tài)邏輯FSM的設(shè)計(jì)與仿真, 硬件描述語(yǔ)言Verilog為數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員提供了一種在廣泛抽象層次上描述數(shù)字系統(tǒng)的方式,同時(shí),為計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)工具在工程設(shè)計(jì)中的應(yīng)用提供了方法。該語(yǔ)言支持早期的行為結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的概念,以及其后層次化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的
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H.264/AVC中量化的Verilog實(shí)現(xiàn)

  • 介紹了H.264的量化算法,并用Modelsim進(jìn)行了仿真,結(jié)果與理論完全一致。分析了在FPGA開(kāi)發(fā)板上的資源的消耗。由此可知,完全可以用FPGA實(shí)現(xiàn)H.264的量化。
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基于FPGA和DDS的信號(hào)源設(shè)計(jì)

  • 基于FPGA和DDS的信號(hào)源設(shè)計(jì),1 引言
    直接數(shù)字頻率合成DDS(Direct Digital Synthesizer)是基于奈奎斯特抽樣定理理論和現(xiàn)代器件生產(chǎn)技術(shù)發(fā)展的一種新的頻率合成技術(shù)。與第二代基于鎖相環(huán)頻率合成技術(shù)相比,DDS具有頻率切換時(shí)間短、頻率分辨率
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H.264/AVC中量化的Verilog方法介紹及實(shí)現(xiàn)

  • 0引言H.264作為新一代的視頻壓縮標(biāo)準(zhǔn),是由ITU-T的視頻編碼專家組和ISO/IEC的MPEG(運(yùn)動(dòng)圖像編碼...
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ChipDesign ISE 11 設(shè)計(jì)工具視點(diǎn)

  •   作為一個(gè)負(fù)責(zé)FPGA 企業(yè)市場(chǎng)營(yíng)銷團(tuán)隊(duì)工作的人,我不得不說(shuō),由于在工藝技術(shù)方面的顯著成就以及硅芯片設(shè)計(jì)領(lǐng)域的獨(dú)創(chuàng)性,F(xiàn)PGA 正不斷實(shí)現(xiàn)其支持片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)的承諾。隨著每一代新產(chǎn)品的推出,F(xiàn)PGA 在系統(tǒng)中具有越來(lái)來(lái)越多的功能,可作為協(xié)處理器、DSP 引擎以及通信平臺(tái)等,在某些應(yīng)用領(lǐng)域甚至還可用作完整的片上系統(tǒng)。   因此,在摩爾定律的作用下,F(xiàn)PGA 產(chǎn)業(yè)的門數(shù)量不斷增加,性能與專門功能逐漸加強(qiáng),使得 FPGA 在電子系統(tǒng)領(lǐng)域能夠取代此前只有 ASIC 和 ASSP 才能發(fā)揮的作用。不過(guò),說(shuō)到底,F(xiàn)
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基于Verilog HDL的DDS設(shè)計(jì)與仿真

  • 直接數(shù)字頻率合成技術(shù)(Direct Digital Synthesize,DDS)是繼直接頻率合成技術(shù)和鎖相式頻率合成技術(shù)之后的第三代頻率合成技術(shù)。它采用全數(shù)字技術(shù),并從相位角度出發(fā)進(jìn)行頻率合成。隨著微電子技術(shù)和數(shù)字集成電路的飛速
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泰科電子推出Multi-Beam XLE連接器

  •   全球全球領(lǐng)先的電子組件供應(yīng)商泰科電子近日宣布推出全新MULTI-BEAM XLE連接器產(chǎn)品。作為泰科電子備受市場(chǎng)認(rèn)可的MULTI-BEAM XL配電連接器的增強(qiáng)版,新產(chǎn)品的負(fù)載電流較標(biāo)準(zhǔn)型MULTI-BEAM XL配電連接器提升20%以上,而耐用度更是其他同類產(chǎn)品的兩倍之多。原有MULTI-BEAM XL產(chǎn)品負(fù)載電流為35安培,而新型連接器的每個(gè)觸點(diǎn)可負(fù)載高達(dá)50安培的電流。MULTI-BEAM XLE的觸點(diǎn)設(shè)計(jì)采用直角型垂直PCB插頭,以及線纜基座式插頭。此外,此款新型連接器還可提供20安培&ldq
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基于Verilog HDL數(shù)字電位器ADN2850的串口控制

  • 摘要:數(shù)字電位器由于可調(diào)精度高,更穩(wěn)定,定位更準(zhǔn)確,操作更方便,數(shù)據(jù)可長(zhǎng)期保存和隨時(shí)刷新等優(yōu)點(diǎn),在某些場(chǎng)合具有模擬電位器不可比擬的優(yōu)勢(shì)。論述對(duì)數(shù)字電位器ADN2850的一種方便的控制方法,通過(guò)計(jì)算機(jī)上的串口直
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首屆中國(guó)開(kāi)源IP核標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì)競(jìng)賽啟動(dòng)

  •   在工信部電子信息司的指導(dǎo)下,工業(yè)和信息化部軟件與集成電路促進(jìn)中心(CSIP )聯(lián)合集成電路IP核標(biāo)準(zhǔn)工作組,現(xiàn)面向全國(guó)集成電路設(shè)計(jì)企業(yè)工程師、科研院所及高校師生,舉辦2009年“首屆中國(guó)開(kāi)源IP核標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì)競(jìng)賽”,競(jìng)賽報(bào)名工作已于6月3日啟動(dòng)。報(bào)名及詳情咨詢可登錄競(jìng)賽官方網(wǎng)站 http://www.ipmall.org.cn了解。據(jù)悉本次競(jìng)賽獲獎(jiǎng)?wù)呖煞謩e獲得現(xiàn)金1萬(wàn)元、5千元等獎(jiǎng)勵(lì),針對(duì)學(xué)生參賽者有機(jī)會(huì)獲得到IBM中國(guó)芯片設(shè)計(jì)中心實(shí)習(xí)的機(jī)會(huì)!   參賽者可以個(gè)人或團(tuán)隊(duì)(不高于
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基于Verilog計(jì)算精度可調(diào)的整數(shù)除法器的設(shè)計(jì)

  • 0 引 言
    除法器是電子技術(shù)領(lǐng)域的基礎(chǔ)模塊,在電子電路設(shè)計(jì)中得到廣泛應(yīng)用。目前,實(shí)現(xiàn)除法器的方法有硬件實(shí)現(xiàn)和軟件實(shí)現(xiàn)兩種方法。硬件實(shí)現(xiàn)的方法主要是以硬件的消耗為代價(jià),從而有實(shí)現(xiàn)速度快的特點(diǎn)。用硬件的方
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基于Verilog的FPGA與USB 2.0高速接口設(shè)計(jì)

  • 0 引 言
    USB(通用串行總線)是英特爾、微軟、IBM、康柏等公司1994年聯(lián)合制定的一種通用串行總線規(guī)范,它具有數(shù)據(jù)傳輸速度快,成本低,可靠性高,支持即插即用和熱插拔等優(yōu)點(diǎn),迅速得到廣泛應(yīng)用。
    在高速的數(shù)
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基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)電機(jī) 速度控制器的SOPC系統(tǒng)

  • 針對(duì)機(jī)器人伺服控制系統(tǒng)高速度、高精度的要求,介紹一種全數(shù)字化的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)控制的直流電機(jī)速度伺服控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案。速度控制器采用BP網(wǎng)絡(luò)參數(shù)辨識(shí)自適應(yīng)控制,并將其在FPGA進(jìn)行硬件實(shí)現(xiàn);同時(shí)用Nios II軟核處理器作為上位機(jī),構(gòu)成一個(gè)完整的速度伺服控制器的片上可編程系統(tǒng)(SOPC)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該控制系統(tǒng)具有較高的控制精度、較好的穩(wěn)定性和靈活性。
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基于Verilog的順序狀態(tài)邏輯FSM設(shè)計(jì)與仿真

基于Verilog-HDL的軸承振動(dòng)噪聲電壓峰值檢測(cè)

  • 引言   在軸承生產(chǎn)行業(yè)中,軸承振動(dòng)噪聲的峰值檢測(cè)是一項(xiàng)重要的指標(biāo)。以往,該檢測(cè)都是采用傳統(tǒng)的模擬電路方法,很難做到1:1地捕捉和保持較窄的隨機(jī)波形的最大正峰值。本文敘述了基于Verilog-HDL與高速A/D轉(zhuǎn)換器相結(jié)合所實(shí)現(xiàn)的快速軸承噪聲檢測(cè)方法。   1 振動(dòng)噪聲電壓峰值檢測(cè)方案的確定   1.1 軸承振動(dòng)噪聲的產(chǎn)生及檢測(cè)   圖1是軸承振動(dòng)噪聲電壓峰值檢測(cè)系統(tǒng)的示意圖。由于加工設(shè)備、技術(shù)、環(huán)境等因素的影響,生產(chǎn)的軸承都程度不同地帶有傷疤。圖1中,假設(shè)某待測(cè)軸承有一處傷疤。由于傷痕的存在,軸
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