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NI發(fā)布全新Single-Board RIO嵌入式設(shè)備

美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布4款全新的NI Single-Board RIO板級(jí)嵌入式設(shè)備，配備了實(shí)時(shí)處理器、Spartan-6現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)、模擬和數(shù)字I / O以及更多的內(nèi)置外設(shè)，可用于實(shí)現(xiàn)自定制嵌入式控制和監(jiān)控應(yīng)用。
關(guān)鍵字： NI 嵌入式處理器

通過與傳統(tǒng)的儀器進(jìn)行比較，了解軟件定義的PXI RF儀器在速度上的優(yōu)勢(shì)。如WCDMA測(cè)量結(jié)果所示，基于多核處理器并行執(zhí)行的LabVIEW測(cè)量算法與傳統(tǒng)儀器相比可以實(shí)現(xiàn)明顯的速度提升。
關(guān)鍵字： NI RF PXI

對(duì)于之前的應(yīng)用程序測(cè)試平臺(tái)，我們使用公司內(nèi)部開發(fā)的控制器板，但該板需要一套單獨(dú)的兼容工具鏈來下載這些應(yīng)用...
關(guān)鍵字： LabVIEW 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) NI

本文討論了巔峰對(duì)決：NI 5665 與傳統(tǒng)臺(tái)式儀器對(duì)比這一視頻中所演示的設(shè)置細(xì)節(jié)。在此演示中，比較了NI PXIe-5665與Agilent PXA的測(cè)試性能與速度。視頻并不是關(guān)于兩個(gè)儀器的技術(shù)指標(biāo)對(duì)比，而是現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的對(duì)比。
關(guān)鍵字： NI 測(cè)試 5665

從波音 747 客機(jī)的導(dǎo)航操作、汽車駕駛每天都會(huì)使用的 GPS 導(dǎo)航系統(tǒng)，到尋寶者要找到深藏于森林某處的寶藏，GPS 技術(shù)已經(jīng)迅速融入于多種應(yīng)用中。
關(guān)鍵字： NI GPS

自從傳送出第一筆無線電波之后，工程師就持續(xù)發(fā)明新方法，以優(yōu)化電磁微波訊號(hào)。RF 訊號(hào)已廣泛用于多種應(yīng)用，其中又以無線通信與 RADAR 的 2 項(xiàng)特殊應(yīng)用正利用此常見技術(shù)。就本質(zhì)而言，此 2 項(xiàng)應(yīng)用的獨(dú)到之處，即是利用電磁波的空間維度 (Spatial dimension)。直到今天，許多無線通信系統(tǒng)整合了多重輸入/輸出 (MIMO) 天線架構(gòu)，以利用多重路徑的訊號(hào)傳播 (Propagation) 功能。
關(guān)鍵字： NI RF MIMO

在過去的20年中，出現(xiàn)了許多可以用來控制儀器的通信總線。在整個(gè)過程中，NI LabVIEW一直是連接并控制儀器的軟件。隨著新型儀器控制總線的出現(xiàn)，NI繼續(xù)對(duì)LabVIEW進(jìn)行創(chuàng)新，提供最好的儀器控制體驗(yàn)。使用LabVIEW，就可以完成以下任務(wù)：
關(guān)鍵字： NI LabVIEW

本文將說明無線領(lǐng)域的三個(gè)趨勢(shì)，這三個(gè)趨勢(shì)不僅影響RF測(cè)試儀器的設(shè)計(jì)，還影響工程師使用這些工具的方式。
關(guān)鍵字： NI 虛擬儀器

縱觀整個(gè)自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域，我們可以看到一些明顯的趨勢(shì)：從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)的每個(gè)階段，不斷提高的信號(hào)速率要求測(cè)試設(shè)備緊跟高速信號(hào)的測(cè)試要求;單一待測(cè)設(shè)備往往集成了多種不同的標(biāo)準(zhǔn)和協(xié)議，這就需要測(cè)試系統(tǒng)能夠足夠靈活地適應(yīng)不斷更新的標(biāo)準(zhǔn);從商業(yè)角度考慮，縮短產(chǎn)品投放市場(chǎng)時(shí)間的壓力也與日俱增，這就需要進(jìn)一步縮短測(cè)試時(shí)間，然而另一方面往往又需要進(jìn)行更多的測(cè)試項(xiàng)目保證產(chǎn)品質(zhì)量;此外，對(duì)制造業(yè)的自動(dòng)化測(cè)試而言，測(cè)試設(shè)備的體積和功耗已經(jīng)無法再隨著測(cè)試需求線形增長。
關(guān)鍵字： PXI PCI

電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
關(guān)鍵字：基準(zhǔn)比較測(cè)試 RF WCDMA PXI RF儀器

概覽本文討論了巔峰對(duì)決：NI 5665 與傳統(tǒng)臺(tái)式儀器對(duì)比這一視頻中所演示的設(shè)置細(xì)節(jié)。在此演示中，比較了NI PXIe-5665與Agilent PXA的測(cè)試性能與速度。視頻并不是關(guān)于兩個(gè)儀器的技術(shù)指標(biāo)對(duì)比，而是現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的對(duì)比。硬
關(guān)鍵字： 5665 NI 儀器對(duì)比

PXI平臺(tái)的出現(xiàn)為自動(dòng)化測(cè)試提供了一種新的思路。標(biāo)準(zhǔn)化的商業(yè)技術(shù)讓PXI技術(shù)在過去十五年中以驚人的速度在測(cè)試和控制應(yīng)用領(lǐng)域得到廣泛的接受，已經(jīng)成為主流的模塊化儀器平臺(tái)。由于PXI是一種模塊化儀器平臺(tái)，與傳統(tǒng)儀器相比有其自身的特點(diǎn)，因此在選擇PXI平臺(tái)產(chǎn)品與供應(yīng)商時(shí)也有更多考慮。
關(guān)鍵字： NI PXI 201206

Author(s):Omar Mussa - Northrop Grumman Space TechnologyIndustry:Aerospace/AvionicsProducts:LabVIEW, DIAdemThe Challenge:創(chuàng)建成本低廉的方法，用于對(duì)二進(jìn)制遙測(cè)數(shù)據(jù)文件進(jìn)行快速定位、組織以及分析。The Sol
關(guān)鍵字： LabVIEW DIAdem NI 遙測(cè)

前言隨著技術(shù)的演進(jìn)及市場(chǎng)需求的改變，電子制造及測(cè)試的方式也隨之變化. 二十一世紀(jì)人們對(duì)產(chǎn)品技術(shù)的要求提升,以及產(chǎn)品生命周期的短縮和價(jià)格的壓力讓電子制造業(yè)者不得不思考是否有另一種測(cè)試平臺(tái)，可以比傳統(tǒng)PC，GPI
關(guān)鍵字： PXI 電子制造業(yè)

前言使用繼電器模塊(Relay Switch Module)做為信號(hào)切換，廣泛地應(yīng)用于IC測(cè)試、電力監(jiān)測(cè)管理、工業(yè)流程與交通控制領(lǐng)域近年來隨著消費(fèi)性電子產(chǎn)品走向多樣化，生命周期縮短，價(jià)格(Cost)、速度(Speed)、靈活性(Flexibili
關(guān)鍵字： Module Switch PXI 智能型