ni connect 文章 最新資訊
基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)測試系統(tǒng)

- 應用領域:產(chǎn)品測試 挑戰(zhàn):通過PXI 控制板卡和LabVIEW軟件,構建一套比較完整齊全的PCB板的功能測試(FCT)系統(tǒng),利用該系統(tǒng)可實現(xiàn)對音頻視頻以及各種靜態(tài)參數(shù)(電壓、電流、頻率)的綜合性全自動測試,對于新開發(fā)生產(chǎn)的PCB板,工廠無需頻繁更換測試硬件,只要添加制作一個測試夾具,重新連接線路,利用LabVIEW開發(fā)編寫測試軟件即可。 應用方案:使用NI公司的PXI控制硬件平臺結合NI的圖形化編程軟件LabVIEW快速并成功的開發(fā)構建出一個經(jīng)濟、靈活的PCB板功能測試系統(tǒng)(FCT測試系統(tǒng)
- 關鍵字: NI LabVIEW PXI
采用LabVIEW為平臺開發(fā)多參數(shù)病人監(jiān)護儀自動測試系統(tǒng)

- 應用領域: 產(chǎn)品測試 挑戰(zhàn): 以NI LabVIEW為軟件核心,集成了多種數(shù)據(jù)采集卡,通信板卡,各類通用儀器,醫(yī)療專用儀器,安規(guī)儀器,切換夾具等硬件,共同構成多參數(shù)病人監(jiān)護儀的全功能及安全測試平臺。 使用的產(chǎn)品: Ø 測試硬件: 1) 標準工控機 2) NI PCI GPIB通信板卡(778032-01) 3) NI PCI-6528 24路通道間光隔離漏/源輸入 4) NI PCI RS232/4串口通信板卡(777642-04)
- 關鍵字: NI LabVIEW 監(jiān)護儀自動測試系統(tǒng)
NI發(fā)布《2010自動化測試前景報告》
- 美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)于4月13日發(fā)布了《2010自動化測試前景報告》,就創(chuàng)新技術對當今測試測量應用的影響發(fā)表了研究結果。報告涵蓋了通信、國防航空、半導體、汽車和消費電子等眾多產(chǎn)業(yè),力圖幫助工程師和管理者了解自動化測試領域的最新發(fā)展趨勢及其影響。 NI通過與眾多涉及不同領域的公司進行交流,對技術發(fā)展趨勢進行了廣泛的研究,從獨特的視角觀察測試測量市場?!?010自動化測試前景報告》結合了學術研究、商業(yè)咨詢、用戶調(diào)查、在線論壇、客戶反饋和區(qū)域銷售代
- 關鍵字: NI 測試測量 自動化測試
NI與天津中德舉行簽約儀式,攜手共建“虛擬儀器技術中心”

- 2010年3月26日,NI與天津中德職業(yè)技術學院就共建“天津中德-美國NI虛擬儀器技術中心”在天津中德職業(yè)技術學院舉行了隆重的簽約儀式。這是NI在多年與國內(nèi)高等院校聯(lián)合培養(yǎng)虛擬儀器技術人才之后,與高等職業(yè)教育院校進行的又一重要合作。 NI院校市場部經(jīng)理徐赟與天津中德職業(yè)技術學院院長李大衛(wèi)作為雙方代表簽署了“天津中德——美國NI虛擬儀器技術中心”合作協(xié)議,一同參加簽約儀式的還有NI區(qū)域銷售經(jīng)理李駿、NI系統(tǒng)聯(lián)盟商中科泛華區(qū)域經(jīng)
- 關鍵字: NI LabVIEW 虛擬儀器
實現(xiàn)從USB到嵌入式系統(tǒng)的部署

- 概述 NI C 系列平臺包含超過 36 種測量模塊和7種用于不同部署方式的機箱。根據(jù)配置的尺寸與復雜度要求,可實現(xiàn)由簡單的4通道溫度記錄器到高通道數(shù)、高采樣速率的控制系統(tǒng)。 外盒/機箱 應用范圍
- 關鍵字: NI 測試測量 USB 嵌入式系統(tǒng)
數(shù)據(jù)采集(DAQ)基礎知識

- 簡介 現(xiàn)今,在實驗室研究、測試和測量以及工業(yè)自動化領域中,絕大多數(shù)科研人員和工程師使用配有PCI、PXI/CompactPCI、PCMCIA、 USB、IEEE1394、ISA、并行或串行接口的基于PC的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。許多應用使用插入式設備采集數(shù)據(jù)并把數(shù)據(jù)直接傳送到計算機內(nèi)存中,而在一些 其它應用中數(shù)據(jù)采集硬件與PC分離,通過并行或串行接口和PC相連。從基于PC的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中獲取適當?shù)慕Y果取決于圖示一中的各項組成部分: · PC · 傳感器 &mi
- 關鍵字: NI 數(shù)據(jù)采集 DAQ
更少的硬件=更多的功能

- 最近您會發(fā)現(xiàn),現(xiàn)在大多數(shù)的電子設備都會將多種功能集成于一體。三年前,可能這些設備的體積是現(xiàn)在的兩倍大,而其功能特性卻只有現(xiàn)在的一半。理想狀 況下,人們希望一位個人助理能夠攜帶所有物品,其中包括照相機、電話、無線筆記本電腦、音樂播放器、時鐘、通信簿等等。為了取代這樣的個人助理,消費電子 市場將所有這些設備方便地集成在單個封裝內(nèi)以提升功能特性,因而產(chǎn)生了多功能的移動電話。 對于極高靈活性的追求,儀器系統(tǒng)市場與消費電子市場并沒有任何不同。公司和顧問人員不斷地努力,以最大化利用數(shù)量有限的、通常也是非常昂
- 關鍵字: NI 測試測量
NI M系列DAQ中使用的新技術

- 概覽 NI公司的M系列數(shù)據(jù)采集設備 (DAQ),以全新的革命性架構,為數(shù)據(jù)采集硬件功能設定了新標準。這些設備除集成了市面上最先進的技術之外,還吸納了一些全新設計優(yōu)勢,顯著改善其性能,準確性與I/O通道密度: NI-STC 2 – 自定義的定時控制器ASIC NI-MCal技術 – 具有革命性的校準和線性化方法 NI-PGIA 2技術 可自定義的增益放大器 NI-STC 2是專門為M系列DAQ設備設計的專用集成電路(A
- 關鍵字: NI DAQ 數(shù)據(jù)采集
NI數(shù)據(jù)采集設備技術總覽

- M系列技術 NI M系列設備為定時、性能和精度整合了三種主要技術:NI-STC 2、NI-PGIA 2和NI-MCal。NI USB M系列設備在USB總線上提供了高性能信號流特性。所有工業(yè)M系列設備和部分選定的USB M系列設備都帶有設備保護和去除接地回路的隔離。 NI-STC 2 NI-STC 2是自定義設計的專用集成電路(ASIC),能夠控制系統(tǒng)的定時、同步和所有輸入輸出數(shù)據(jù)采集操作。NI-STC 2提供了: 6個DMA通道——為每個功能提
- 關鍵字: NI 數(shù)據(jù)采集
用于可靠工業(yè)測量的隔離技術

- 概述 電壓、電流、溫度、壓力、應變和流速的測試是工業(yè)控制與過程控制應用不可或缺的一部分。通常,這些應用所處的環(huán)境具有危 險的電壓、瞬態(tài)信號、共模電壓和地電位波動,這會使測量系統(tǒng)受損并破壞測量的精度。為應對這些挑戰(zhàn),專為工業(yè)應用所設計的測量系統(tǒng)采用了電氣隔離技術。本 白皮書聚焦于用于模擬測量的隔離技術,解答了常見的隔離問題,并涵蓋了關于不同的隔離實現(xiàn)技術的技術內(nèi)容。 理解隔離技術 電氣隔離使可能會暴露在危險電壓下的傳感器信號與測量系統(tǒng)的低壓背板相分離。隔離提供了許多優(yōu)勢,其中包括:
- 關鍵字: NI 隔離 測試測量
借助智能DAQ, 獲得高級數(shù)據(jù)采集技術

- 概覽 多功能智能DAQ設備配有自定義式板載處理功能,最大限度地為系統(tǒng)定時及觸發(fā)提供靈活性能。 與控制設備功能的固定ASIC不同,智能DAQ采用基于FPGA的系統(tǒng)定時控制器,令所有模擬和數(shù)字I/O能夠根據(jù)特定應用操作接受相應的配置。 本指南展示了:如何使用R系列智能DAQ板卡和NI LabVIEW FPGA,靈活自如地執(zhí)行數(shù)據(jù)采集任務 入門 NI LabVIEW FPGA模塊幫助DAQ系統(tǒng)的開發(fā)者靈活自如地進行應用程序編程以實現(xiàn)各類輸入/輸出操作。 用戶無需預先了解VHDL等硬件設計工
- 關鍵字: NI 數(shù)據(jù)采集 LabVIEW DAQ
LabVIEW天下會誠邀各路英豪

- 2010年4月——由美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI)與LabVIEW開發(fā)者社區(qū)GSDZone聯(lián)合主辦,測量測試世界,中國工控網(wǎng)等眾多海內(nèi)外知名網(wǎng)站傾情呈獻的“LabVIEW天下會”首屆全球華人LabVIEW開發(fā)者競賽,近日在全球范圍內(nèi)展開。該活動旨在促進廣大LabVIEW愛好者交流開發(fā)經(jīng)驗,切磋編程技術。 LabVIEW天下會分別設有開發(fā)組和應用組,力求更加全面地體現(xiàn)參賽者LabVIEW掌握水平。開發(fā)組側(cè)重
- 關鍵字: NI LabVIEW 虛擬儀器
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