jtag 文章 最新資訊
多核軟件調(diào)試的難點及新方法
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡家園
- 關鍵字: 多核軟件調(diào)試 JTAG SoC 片上調(diào)試
探討基于JTAG技術的嵌入式系統(tǒng)測試的各個階段
- 引言 IEEE 1149.1邊界掃描測試標準(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來進行復雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標準方法,大多數(shù)復雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標準。為了更好地理解這種
- 關鍵字: JTAG 技術的嵌入式 系統(tǒng)測試
基于SOPC的M8051嵌入式調(diào)試器設計
- 摘要:調(diào)試器是嵌入式系統(tǒng)軟件開發(fā)的重要工具。本文設計了一款基于USB接口并以SOPC方式實現(xiàn)的M8051嵌入式調(diào)試 ...
- 關鍵字: SOPC M8051 嵌入式調(diào)試器 JTAG
滿足的嵌入式系統(tǒng)電路特性測試需求的JTAG技術
- 引言:EEE 1149.1邊界掃描測試標準(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來進行復雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標準方法,大多數(shù)復雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標準。為了更好地理解這種
- 關鍵字: JTAG 嵌入式系統(tǒng) 電路 特性測試
多核處理器架構及調(diào)試方案
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡家園
- 關鍵字: 處理架構 多核處理器 調(diào)試方案 JTAG
jtag介紹
JTAG是英文“Joint Test Action Group(聯(lián)合測試行為組織)”的詞頭字母的簡寫,該組織成立于1985 年,是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測試標準。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準為IEEE1149.1-1990 測試訪問端口和邊界掃描結構標準。該標準規(guī)定了進行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準后,IEEE 分別于1993 年和 [ 查看詳細 ]
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