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soc可測試 文章 最新資訊

SOC的可測試性設計策略

  • 1引言可測試設計(DFT)是適應集成電路的發(fā)展要求所出現(xiàn)的一種技術，主要任務是對電路的結構進行調整，提高電路的可測性，即可控制...
  • 關鍵字： SOC可測試  
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soc可測試介紹

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