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芯測科技提供便捷版內存測試方案EZ-BIST

• 　　中美貿(mào)易戰(zhàn)持續(xù)延燒，引發(fā)后續(xù)波及全球的貿(mào)易戰(zhàn)爭，當中更是突顯知識產(chǎn)權合法的重要性。有鑒于此，深耕于開發(fā)內存測試與修復技術的芯測科技(iSTART-Tek，簡稱iSTART)為了協(xié)助客戶對知識產(chǎn)權領域規(guī)避嚴重失信的風險，日前推出最新便捷版內存內建式自我測試(MBIST)測試方案「EZ-BIST」，適用于MCU相關的系統(tǒng)芯片開發(fā)商。采用芯測科技(iSTART)所提供低成本且高效率的內存測試開發(fā)工具，可協(xié)助客戶快速的開發(fā)產(chǎn)品，避免忽略內存測試的細節(jié)而導致產(chǎn)品良率下降，而其適用的應用如觸控屏、指紋辨識、語音識
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