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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 脈沖技術(shù)

CMOS可靠性測試:脈沖技術(shù)如何助力AI、5G、HPC?

  • 在半導(dǎo)體領(lǐng)域,隨著技術(shù)的不斷演進(jìn),對(duì)CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)可靠性的要求日益提高。特別是在人工智能(AI)、5G通信和高性能計(jì)算(HPC)等前沿技術(shù)的推動(dòng)下,傳統(tǒng)的可靠性測試方法已難以滿足需求。本文將探討脈沖技術(shù)在CMOS可靠性測試中的應(yīng)用,以及它如何助力這些新興技術(shù)的發(fā)展。引言對(duì)于研究半導(dǎo)體電荷捕獲和退化行為而言,交流或脈沖應(yīng)力是傳統(tǒng)直流應(yīng)力測試的有力補(bǔ)充。在NBTI(負(fù)偏置溫度不穩(wěn)定性)和TDDB(隨時(shí)間變化的介電擊穿)試驗(yàn)中,應(yīng)力/測量循環(huán)通常采用直流信號(hào),因其易于映射到器件模型中。然而,結(jié)
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脈沖技術(shù)介紹

 脈沖技術(shù)   pulse technique   脈沖信號(hào)的變換、產(chǎn)生和應(yīng)用技術(shù)。脈沖信號(hào)的波形在某一時(shí)間內(nèi)有突發(fā)性和斷續(xù)性的特點(diǎn),幾種理想的脈沖信號(hào)波形有方波、矩形波、三角波、尖頂脈沖波和鋸齒波等。   脈沖技術(shù)在電子技術(shù)中起著非常重要的作用,它已廣泛應(yīng)用于電子計(jì)算機(jī)、通信、雷達(dá)、電視、自動(dòng)控制、遙控遙測、無線電導(dǎo)航和測量技術(shù)等領(lǐng)域。   常見的線性波形變換電路有微分電路和積分電路。另 [ 查看詳細(xì) ]

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