相變存儲器器件單元測試系 文章 最新資訊
相變存儲器器件單元測試系統
- 1引言硫系化合物隨機存儲器,簡稱C-RAM。C-RAM單元結構是下電極/相變材料/上電極,其中相變材料是硫系化合物存儲介質,較為成熟...
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相變存儲器器件單元測試系介紹
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