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測(cè)試
測(cè)試 文章 最新資訊
吉時(shí)利推出4.0版ACS軟件
- 美國(guó)吉時(shí)利儀器公司日前宣布增強(qiáng)了其ACS(Automated Characterization Suite,自動(dòng)特征分析套件)軟件,納入了面向半導(dǎo)體可靠性與壽命預(yù)測(cè)測(cè)試應(yīng)用的WLR(wafer level reliability,圓片級(jí)可靠性)備選測(cè)試工具。 4.0版以ACS軟件已有的單點(diǎn)和多點(diǎn)并行測(cè)試功能為基礎(chǔ),增加了對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)的支持,以及最新的RTM(Reliability Test Module,可靠性測(cè)試模塊)軟件工具和備選license以及ACS數(shù)據(jù)分析功能。此外,新增可靠性測(cè)試與數(shù)據(jù)分
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嵌入式軟件測(cè)試

- 前言 目前在嵌入式領(lǐng)域,目標(biāo)系統(tǒng)的應(yīng)用系統(tǒng)日趨復(fù)雜,而由于競(jìng)爭(zhēng)要求產(chǎn)品快速上市,開(kāi)發(fā)技術(shù)日新月異,同時(shí)硬件發(fā)展的日益穩(wěn)定,造成了軟件故障日益突出。由此,軟件的重要性越來(lái)越引起人們的重視,人們認(rèn)識(shí)到嵌入式系統(tǒng)的測(cè)試勢(shì)在必行。 由于嵌入式系統(tǒng)的自身特點(diǎn),如實(shí)時(shí)性、內(nèi)存不豐富、I/O通道少、開(kāi)發(fā)工具昂貴、并且與硬件緊密相關(guān),CPU種類繁多等等。嵌入式軟件的開(kāi)發(fā)和測(cè)試也就與一般商用軟件的開(kāi)發(fā)和測(cè)試策略有了很大的不同,可以說(shuō)嵌入式軟件是最難測(cè)試的一種軟件。 嵌入式軟件測(cè)試使用有效的測(cè)試策略是唯
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SGS通標(biāo)拓展華南市場(chǎng)新舉措 順德實(shí)驗(yàn)室正式投入運(yùn)營(yíng)
- 2008年3月26日 中國(guó) 上海 —— 全球領(lǐng)先的第三方檢驗(yàn)、鑒定、測(cè)試及認(rèn)證公司SGS集團(tuán)在中國(guó)的合資公司 - SGS-CSTC通標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司(下簡(jiǎn)稱SGS通標(biāo)公司)今天宣布,公司位于華南地區(qū)的又一分支機(jī)構(gòu)順德實(shí)驗(yàn)室正式投入運(yùn)營(yíng),該實(shí)驗(yàn)室是第一家全球第三方認(rèn)證機(jī)構(gòu)在順德投資的試驗(yàn)室,也是SGS通標(biāo)公司繼2006年在廣州科學(xué)城設(shè)立實(shí)驗(yàn)綜合樓之后,在華南地區(qū)建立的又一家實(shí)驗(yàn)室。SGS集團(tuán)、通標(biāo)公司高級(jí)總監(jiān)杜佳斌先生和順德區(qū)政府的有關(guān)領(lǐng)導(dǎo)親臨慶典現(xiàn)場(chǎng)并主持啟動(dòng)
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如何降低測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)關(guān)噪聲(04-100)

- 為測(cè)試電子和機(jī)電器件設(shè)計(jì)開(kāi)關(guān)系統(tǒng)所遇到的問(wèn)題和設(shè)計(jì)產(chǎn)品本身一樣多。隨著器件中高速邏輯的出現(xiàn)以及與更靈敏模擬電路的連接,使得降低測(cè)試開(kāi)關(guān)系統(tǒng)中的噪聲比以前任何時(shí)候更加重要。 本文所述的噪聲降低技術(shù)準(zhǔn)則是針對(duì)信號(hào)頻率低于300MHz、電壓低于250V、電流小于5A和電壓乘赫茲積小于107。 任何新式測(cè)試系統(tǒng)都用很多信號(hào)和電源線來(lái)仿真和測(cè)量DUT(待測(cè)器件),并有各種各樣的開(kāi)關(guān)進(jìn)行自動(dòng)連接。通用測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示于圖1??刂瓶偩€示于圖中左邊。模擬、數(shù)字和電源總線作為垂直線對(duì)示于不同子系統(tǒng)后面。
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3G基站發(fā)射機(jī)性能測(cè)試與分析
- WCDMAUMTSNodeB發(fā)射機(jī)的特征描述包括射頻頻譜描述和碼域解調(diào)描述兩大部分,基于這種描述的測(cè)量可以使用具...
- 關(guān)鍵字: 基站技術(shù) 測(cè)試 導(dǎo)頻 頻率誤差 功率測(cè)量 發(fā)射機(jī) 遠(yuǎn)近效應(yīng) QPSK調(diào)制 線性功率放大器 OVSF
WCDMA基站的綜合測(cè)試解決方案
- ?????? 新技術(shù)的出現(xiàn)和發(fā)展,必然帶動(dòng)測(cè)試技術(shù)的進(jìn)步。在測(cè)試業(yè)界,當(dāng)新技術(shù)出現(xiàn)初期,由于相關(guān)技術(shù)尚未定型,這個(gè)階段必然是以通用儀表技術(shù)為主體完成相關(guān)的測(cè)試任務(wù)。然而新技術(shù)發(fā)展到一定階段,技術(shù)相對(duì)穩(wěn)定,相關(guān)的測(cè)試規(guī)范基本定型后,必然會(huì)誕生相應(yīng)的專用儀表。 當(dāng)前,3G移動(dòng)通信技術(shù)穩(wěn)步發(fā)展,在3G基站的研究開(kāi)發(fā)領(lǐng)域,目前采用的主要的射頻測(cè)試解決方案是,在真實(shí)RNC或是廠家LMT的支撐下,使用兩到三臺(tái)分立儀表(實(shí)踐中會(huì)需要更多儀表)并配以周邊器
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VoIP應(yīng)用增加測(cè)試的復(fù)雜化

- 從上世紀(jì)90年代中期一次不成功的啟動(dòng)中復(fù)蘇,VoIP現(xiàn)在重新成為電話應(yīng)用的可行競(jìng)爭(zhēng)者。在以數(shù)據(jù)為中心的互聯(lián)網(wǎng)協(xié)議上發(fā)送對(duì)時(shí)間要求嚴(yán)格的語(yǔ)音流,需要開(kāi)發(fā)復(fù)雜的協(xié)議,從而導(dǎo)致網(wǎng)絡(luò)通信測(cè)試的戲劇性變化。 根據(jù)市場(chǎng)研究公司Frost & Sullivan的分析,VoIP給通信測(cè)試帶來(lái)的最大變化,是VoIP測(cè)試設(shè)備市場(chǎng)劇增。在他們題為《全球 VoIP測(cè)試設(shè)備市場(chǎng)》的研究報(bào)告中,分析師預(yù)測(cè)市場(chǎng)將從2004年的2.1258億美元增加到2008年接近6.4億美元,年增長(zhǎng)率超過(guò)30%。 該市場(chǎng)的膨脹
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電器產(chǎn)品的耐壓測(cè)試
- ?????? 在CSA,UL和IEC標(biāo)準(zhǔn)中,幾乎各種電器安全標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)要求對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行耐壓測(cè)試。這就可以看出耐壓測(cè)試是電器安全標(biāo)準(zhǔn)的一個(gè)重要組成部分。 ??????? 耐壓測(cè)試(Dielectric Voltage Withstand Test)也就是俗稱的高壓測(cè)試(High Voltage Test),通過(guò)對(duì)設(shè)備施加一個(gè)高于其額定值的電壓并維持一定時(shí)間來(lái)判定設(shè)備的絕緣材料和空間
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無(wú)線通信中的OFDM技術(shù)及測(cè)試

- ???????? OFDM(正交頻分多路復(fù)用)具有很高的頻譜效率,比GSM和WCDMA等無(wú)線技術(shù)能夠在單位帶寬內(nèi)調(diào)制更多的數(shù)據(jù)。圖1對(duì)比了幾種主要無(wú)線蜂窩技術(shù)的頻譜效率,以及它們與WLAN和WiMAX的對(duì)比情況。以面向移動(dòng)蜂窩設(shè)備的無(wú)線LTE(長(zhǎng)期演進(jìn))和UMB(超移動(dòng)寬帶)技術(shù)為代表的第四代無(wú)線通信技術(shù)計(jì)劃將采用OFDM和OFDMA技術(shù)。 ? 圖1? 主要蜂窩技術(shù)的頻譜效率及其與WLAN和WiMAX的
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測(cè)試行業(yè)技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)
- LXI是未來(lái)儀器的主要發(fā)展方向。自2005年推出以來(lái),LXI 標(biāo)準(zhǔn)已被50多家在測(cè)試和測(cè)量行業(yè)中有影響的公司接納。隨著網(wǎng)絡(luò)日益普及,LXI在分布式或遠(yuǎn)程系統(tǒng)中顯現(xiàn)出獨(dú)特的優(yōu)勢(shì),使各企業(yè)的不同工作地點(diǎn)之間能共享儀表和測(cè)試的結(jié)果。目前LXI在國(guó)外主要應(yīng)用于軍方,在中國(guó)還處于推廣階段,但已有很多單位正在評(píng)估和試用,預(yù)計(jì)未來(lái)三到五年內(nèi)LXI會(huì)得以普及。? 數(shù)字化/軟件化也是今后的一個(gè)發(fā)展趨勢(shì)。但它們受到頻率的限制,雖然射頻信號(hào)經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換數(shù)字化后,可以用數(shù)字和協(xié)議的方法來(lái)傳送,但更高頻率的參數(shù)本身的
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應(yīng)對(duì)數(shù)字新世界測(cè)試挑戰(zhàn)

- ??????????????????????????????????????????&nb
- 關(guān)鍵字: 數(shù)字 測(cè)試
測(cè)試介紹
中文名稱:
測(cè)試
英文名稱:
test
定義1:
對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。
應(yīng)用學(xué)科:
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2:
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科:
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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