測(cè)試文章最新資訊

開(kāi)關(guān)電源測(cè)試探討

在電子環(huán)境中，電磁干擾對(duì)電源的工作會(huì)產(chǎn)生一定的影響，源效應(yīng)和負(fù)載效應(yīng)小的電源其穩(wěn)定性較好，電子工程師在電源設(shè)計(jì)中應(yīng)考慮到這些方面?！　∫弧?測(cè)試項(xiàng)目　　需測(cè)項(xiàng)目包括開(kāi)關(guān)電源空載輸出、額定負(fù)載時(shí)電壓和電流
關(guān)鍵字：探討測(cè)試開(kāi)關(guān)電源

通過(guò)嵌入式存儲(chǔ)器測(cè)試和修復(fù)解決良品率問(wèn)題

關(guān)鍵字：存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)中存儲(chǔ)器容量的增加以及嵌入式存儲(chǔ)器支配整個(gè)裸片良品率的事實(shí)，使良品率設(shè)計(jì)(DFY)面臨日益嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)，特別是在新興的90nm和65nm半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域。由于嵌入式存儲(chǔ)器容易產(chǎn)生較高的
關(guān)鍵字：嵌入式存儲(chǔ)器測(cè)試

音頻IC測(cè)試面臨新挑戰(zhàn)

關(guān)鍵字：音頻ICHDTV（高清電視）正在通過(guò)下一代 SoC（單片系統(tǒng)）平臺(tái)呈現(xiàn)強(qiáng)勁的勢(shì)頭，這是一個(gè)眾所周知的趨勢(shì)。用于機(jī)頂盒、電視監(jiān)視器、硬盤播放機(jī)，以及（不久將來(lái)的）移動(dòng)媒體播放機(jī)都將具備 HD 能力。但這一變革
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軟件測(cè)試中對(duì)于測(cè)試計(jì)劃有效性問(wèn)題的分析

近半年以來(lái)，我們部門大大小小的測(cè)試項(xiàng)目也做了不少。對(duì)于如何組織測(cè)試工作，各個(gè)測(cè)試組長(zhǎng)/測(cè)試負(fù)責(zé)人都積極發(fā)揮著自己的主觀能動(dòng)性，為提高測(cè)試質(zhì)量和測(cè)試效率而積極思考。但是，唯一有個(gè)問(wèn)題讓一些組織者絞盡腦汁
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基于LabVIEW的集成電路測(cè)試分析儀

摘要：為滿足高校實(shí)驗(yàn)室對(duì)數(shù)字集成芯片的測(cè)試需求，利用LabVIEW軟件和單片機(jī)技術(shù)，設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了集成電路測(cè)試分析儀。與常見(jiàn)的集成電路測(cè)試儀相比，系統(tǒng)的特色在于依托LabVIEW強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析和圖形顯示功能，不僅能完成
關(guān)鍵字：分析儀測(cè)試集成電路 LabVIEW 基于

系統(tǒng)DC電源的選擇影響著測(cè)試吞吐量

關(guān)鍵字：DC電源測(cè)試吞吐量許多電子產(chǎn)品的自動(dòng)測(cè)試時(shí)間只有幾秒鐘，系統(tǒng)DC電源可能在這一時(shí)間中占相當(dāng)大的比重，因此在優(yōu)化測(cè)試吞吐量值得關(guān)注。但是，電源的判斷標(biāo)準(zhǔn)通常是價(jià)格和輸出功率，而不是其對(duì)測(cè)試吞吐量的影
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靈活LTE測(cè)試技術(shù)簡(jiǎn)介

長(zhǎng)期演進(jìn)(LTE)無(wú)線網(wǎng)絡(luò)給測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商提出了若干挑戰(zhàn)。3GPP定義的LTE空中接口，在下行采用正交頻分多址(OFDMA)技術(shù)，在上行采用單載頻頻分多址(SC-FDMA)技術(shù)，且上下行同時(shí)采用了多輸入多輸出(MIMO)天線配置以最大
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利用示波器進(jìn)行電源紋波分析及測(cè)試

一、什么叫紋波？　　紋波（ripple）的定義是指在直流電壓或電流中，疊加在直流穩(wěn)定量上的交流分量?！　∷饕幸韵潞μ帲骸　?.1．容易在用電器上產(chǎn)生諧波，而諧波會(huì)產(chǎn)生更多的危害；　　1.2．降低了電源的效率；
關(guān)鍵字：示波器電源紋波分析測(cè)試

安捷倫科技公司和Lime Microsystems攜手合作

安捷倫科技公司和 Lime Microsystems 日前聯(lián)合發(fā)布一套由測(cè)試設(shè)備、收發(fā)信機(jī)技術(shù)和控制軟件構(gòu)成的全新定制產(chǎn)品，用于測(cè)試和評(píng)估先進(jìn)無(wú)線系統(tǒng)。評(píng)測(cè)平臺(tái)包含全套測(cè)試設(shè)備和軟件，可為當(dāng)前的數(shù)字和軟件無(wú)線電設(shè)計(jì)人員節(jié)省開(kāi)發(fā)時(shí)間、縮短優(yōu)化周期和加快新產(chǎn)品的上市速度。
關(guān)鍵字：安捷倫測(cè)試收發(fā)信機(jī)

SoC測(cè)試的概念及實(shí)例詳解

本文主要介紹了一個(gè)具有可測(cè)性設(shè)計(jì)和可制造性設(shè)計(jì)的新型單片系統(tǒng)，該系統(tǒng)由硬盤控制器(HDC)、16位微控制器、微控制器使用的程序和數(shù)據(jù)SRAM以及用8M位DRAM實(shí)現(xiàn)的片上緩存組成，再加上時(shí)鐘綜合PLL、帶外部旁路晶體管的
關(guān)鍵字： SoC 測(cè)試概念實(shí)例

測(cè)試竅門：選擇合適的示波器帶寬

關(guān)鍵字：示波器帶寬帶寬是大多數(shù)工程師在選擇一款示波器時(shí)首先考慮的參數(shù)。本文將為您提供一些有用的竅門，教您如何為您的數(shù)字和模擬應(yīng)用選擇合適的示波器帶寬。但首先，我們先看看示波器帶寬的定義。示波器帶寬的定
關(guān)鍵字：測(cè)試示波器帶寬

水泵測(cè)試系統(tǒng)

水泵測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)概述該系統(tǒng)控制的主要設(shè)備為12臺(tái)水泵，每6臺(tái)一組，共兩組，12臺(tái)水泵可同時(shí)工作，長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行， ...
關(guān)鍵字：水泵測(cè)試

嵌入式半導(dǎo)體器件混合信號(hào)測(cè)試策略

嵌入式半導(dǎo)體器件混合信號(hào)測(cè)試策略, 混合信號(hào)技術(shù)給當(dāng)今的半導(dǎo)體制造商們帶來(lái)了很多新挑戰(zhàn),以前一些對(duì)數(shù)字電路只有很小影響的缺陷如今在嵌入式器件中卻可能大大改變模擬電路的功能,導(dǎo)致器件無(wú)法使用。為確保這些新型半導(dǎo)體器件達(dá)到“無(wú)缺陷rdquo
關(guān)鍵字：測(cè)試策略信號(hào) 混合半導(dǎo)體器件嵌入式

利用增益測(cè)試小訣竅獲得最佳失真水平

關(guān)鍵字：增益測(cè)試我一直與精密運(yùn)算放大器打交道。有些運(yùn)算放大器線性度比較好，而另一些的線性度則特別好。有些運(yùn)算放大器具有較高的ZOUT，而另外一些的ZOUT則比較低。某些運(yùn)算放大器是雙極運(yùn)算放大器，而另外一些則
關(guān)鍵字：增益測(cè)試失真水平

互操作性測(cè)試研究――BGP4+測(cè)試

針對(duì)面向IPv6的邊界網(wǎng)關(guān)協(xié)議BGP4+進(jìn)行了互操作性測(cè)試研究。討論了BGP4+與BGP4的區(qū)別，給出了BGP4+協(xié)議測(cè)試的有限狀態(tài)機(jī)模型。運(yùn)用形式化與非形式化相結(jié)合的方法生成了BGP4+的測(cè)試?yán)⒔o出了運(yùn)用測(cè)試?yán)龑?duì)具體的協(xié)議實(shí)現(xiàn)測(cè)試的結(jié)果。
關(guān)鍵字：測(cè)試 BGP4 研究操作性

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測(cè)試介紹

　　中文名稱：　　測(cè)試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]