測(cè)試文章最新資訊

寬帶多媒體網(wǎng)關(guān)測(cè)試方法研究

0引言近年來(lái)，開發(fā)新一代高速信息網(wǎng)絡(luò)得到了世界各國(guó)的普遍重視，各國(guó)都提出了相應(yīng)的高速網(wǎng)絡(luò)研究計(jì)劃，如美國(guó)自然科學(xué)基金會(huì)設(shè)立了“下一代Internet研究計(jì)劃：NGI”,建立了高速網(wǎng)絡(luò)試驗(yàn)床vBNS（Very High
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使用NI VeriStand實(shí)現(xiàn)汽車ECU的HIL測(cè)試

“NI VeriStand與NI PXI平臺(tái)的結(jié)合滿足了用戶對(duì)I/O、計(jì)算能力、信號(hào)仿真和數(shù)據(jù)分析等功能的需求，而且是完全開放和模塊化的?！报CEnrico Corti, Alma Automotive.
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MIMO通信系統(tǒng)的射頻測(cè)試簡(jiǎn)介

隨著每一代技術(shù)的進(jìn)步，無(wú)線通信系統(tǒng)不斷實(shí)現(xiàn)比以前更高的數(shù)據(jù)吞吐量。從歷史上看，這個(gè)成績(jī)是通過更寬的通道帶寬、頻譜利用技術(shù)(如正交頻分復(fù)用 (OFDM)),以及更復(fù)雜的調(diào)制類型來(lái)實(shí)現(xiàn)的?！　≡黾訜o(wú)線通道帶寬的最近
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PXI和LXI實(shí)現(xiàn)通信測(cè)試自動(dòng)化的方法

要點(diǎn)　　- 儀器與控制器通信以及彼此間通信的能力可追溯到上世紀(jì)60年代末，當(dāng)時(shí)HP公司發(fā)明了HP接口總線(HP-IB)，被制定為IEEE-488標(biāo)準(zhǔn)，并起了一個(gè)名字——通用接口總線(GPIB)?！　? PXI標(biāo)準(zhǔn)和LXI標(biāo)準(zhǔn)正在
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UPS電源的穩(wěn)態(tài)和動(dòng)態(tài)測(cè)試方法

UPS電源的測(cè)試一般包括穩(wěn)態(tài)測(cè)試和動(dòng)態(tài)測(cè)試兩類。穩(wěn)態(tài)測(cè)試是在空載、50%額定負(fù)載以及100%額定負(fù)載條件下，測(cè)試輸入、輸出端的各相電壓、線電壓、空載損耗、功率因數(shù)、效率、輸出電壓波形、失真度及輸出電壓的頻率等。
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開發(fā)針對(duì)ECU測(cè)試的硬件在環(huán)、高速仿真與數(shù)據(jù)采集系

“我們使用LabVIEW獨(dú)立開發(fā)了數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和日志文件工具，我們的系統(tǒng)完全依賴于NI產(chǎn)品的速度和精度。” - Thomas J. Mangliers, DGE Inc. 挑戰(zhàn)：為發(fā)動(dòng)機(jī)控制單元(ECU)開發(fā)一個(gè)多路信號(hào)的硬件在環(huán)(HIL)仿
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保護(hù)輸出過壓的電路

在測(cè)試與測(cè)量應(yīng)用中，必須為放大器、電源以及類似部件的輸出端提供過壓保護(hù)。實(shí)現(xiàn)這一任務(wù)的傳統(tǒng)方式是在...
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安捷倫PXI測(cè)試解決方案助力新興應(yīng)用發(fā)展

作為PXI聯(lián)盟的核心成員和金牌贊助商，安捷倫科技積極參加了于2012年 5月29日在上海舉辦的 PXI TAC大會(huì)。會(huì)上安捷倫展示了近期推出的多款基于PXI平臺(tái)的測(cè)試系統(tǒng)及解決方案，包括802.11ac MIMO信號(hào)分析系統(tǒng)、高帶寬信號(hào)流盤方案、8通道同步高速數(shù)字化儀M9703A等。
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多標(biāo)準(zhǔn)無(wú)線電基站發(fā)射機(jī)測(cè)試挑戰(zhàn)

電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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應(yīng)對(duì)多標(biāo)準(zhǔn)無(wú)線電基站發(fā)射機(jī)測(cè)試的挑戰(zhàn)

下一代基站發(fā)射機(jī)和接收機(jī)將會(huì)支持更寬的帶寬，不僅包括采用單一無(wú)線制式的多載波(MC)，還包括在單一發(fā)射機(jī)路徑中的多種制式。例如，GSM、W-CDMA和LTE多載波可以同時(shí)從一個(gè)多標(biāo)準(zhǔn)無(wú)線(MSR)基站單元進(jìn)行傳輸。蜂窩網(wǎng)
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功放TDA7294的測(cè)試原理及總結(jié)

一、芯片描述
　　TDA7294是歐洲著名的SGS-THOMSON意法微電子公司于90年代向中國(guó)大陸推出的一款頗有新意的DMOS大功率的集成功放電路。它一掃以往線性集成功放和厚膜集成的生、冷、硬的音色，廣泛應(yīng)用于HI-FI領(lǐng)域：如
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單片機(jī)的EMC測(cè)試及故障排除

摘要：講述EMC的定義，EMC在單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的測(cè)試方法，EMC新器件新材料的應(yīng)用以及故障排除技術(shù)。只要從事電子產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)或者供應(yīng)，就必須進(jìn)行EMC電磁兼容的檢測(cè)工作。引言所謂EMC就是：設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境
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設(shè)備軟件可靠性測(cè)試

檢驗(yàn)設(shè)備軟件在各種條件下可實(shí)現(xiàn)持續(xù)運(yùn)行狀態(tài)，以及評(píng)估設(shè)備從故障中恢復(fù)正常服務(wù)所需要的時(shí)間和其他影響，就是軟件可靠性測(cè)試主要涉及的課題。設(shè)備為達(dá)到連續(xù)可運(yùn)行目標(biāo)，除了在硬件設(shè)計(jì)中考慮器件可連續(xù)無(wú)故障運(yùn)行
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如何提高G652D光纖宏彎損耗測(cè)試效率

光纖宏彎損耗測(cè)試，在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T9771.3-2008中描述為：光纖以30mm半徑松繞100圈，在1625nm測(cè)得的宏彎損耗應(yīng)不超過0.1dB。而注2中描述：為了保證彎曲損耗易于測(cè)量和測(cè)量準(zhǔn)確度，可用1圈或幾圈小半徑環(huán)光纖代替100圈
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測(cè)試介紹

　　中文名稱：　　測(cè)試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]