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測(cè)試
測(cè)試 文章 最新資訊
如何提高LED測(cè)試的效率并減少產(chǎn)品壽命損耗
- 在整個(gè)LED產(chǎn)業(yè)鏈中,從芯片一直到封裝、成品,均需要對(duì)產(chǎn)品的各項(xiàng)光電指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試。而大部分LED廠商會(huì)發(fā)現(xiàn),經(jīng)過(guò)測(cè)試以后,LED產(chǎn)品的壽命會(huì)受到一定影響,甚至有的在測(cè)試過(guò)程中就已經(jīng)直接報(bào)廢。這是為什么?當(dāng)使用微小電流進(jìn)行LED測(cè)試時(shí),電流越小,等待LED點(diǎn)亮的時(shí)間就越長(zhǎng),測(cè)試效率非常低下。這又是為什么?國(guó)內(nèi)大部分的廠商都認(rèn)為這是LED產(chǎn)品本身的特性所決定的,非人力所能改變,其實(shí)不然。目前,在歐美、日本、臺(tái)灣等LED產(chǎn)業(yè)相對(duì)發(fā)達(dá)的地區(qū),各大LED廠商已經(jīng)開(kāi)始選用LED測(cè)試專(zhuān)用電源供應(yīng)器來(lái)應(yīng)對(duì)這一問(wèn)題。ITE
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NI發(fā)布最新版本VeriStand

- 美國(guó)國(guó)家儀器近日發(fā)布最新基于配置的軟件環(huán)境NI VeriStand 2012,它具備開(kāi)放、直觀的軟件界面,可開(kāi)發(fā)實(shí)時(shí)測(cè)試應(yīng)用程序。 工程師可以使用新版本的NI VeriStand進(jìn)行高速數(shù)據(jù)采集和記錄,后處理過(guò)程中數(shù)據(jù)記錄的靈活性更大,能夠更快地找到有用的數(shù)據(jù)。新硬件配置實(shí)用程序的啟動(dòng)和運(yùn)行十分快速,而NI SC Express集成可使采集調(diào)解測(cè)量比以往更為容易。
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A 至D 轉(zhuǎn)換器的保真度測(cè)試
- 引言對(duì)正弦波進(jìn)行精確數(shù)字化的能力是高分辨率 A 至 D 轉(zhuǎn)換器保真度的一項(xiàng)敏感度測(cè)試。該測(cè)試需要一個(gè)具接近 1ppm 殘留失真分量的正弦波發(fā)生器。此外,還需要一個(gè)基于計(jì)算機(jī)的 A 至 D 輸出監(jiān)視器,用于讀取和顯示轉(zhuǎn)換
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力科以技術(shù)創(chuàng)新為動(dòng)力 加速測(cè)試產(chǎn)業(yè)蝶變
- TeledyneLe Croy公司在2013年加利福尼亞的DesignCon大會(huì)上展示了信號(hào)完整性測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域最新的創(chuàng)新,展會(huì)上TeledyneLe Croy帶給了觀眾生動(dòng)的產(chǎn)品演示,研發(fā)工程師帶來(lái)了深入細(xì)致的技術(shù)報(bào)告、具體應(yīng)用的研討會(huì),觀眾也可以光臨229展位上與工程師展開(kāi)討論。這次展會(huì)上力科特別展出的代表性產(chǎn)品有:LabMaster10Zi系列示波器,世界上最高帶寬65GHz時(shí)可達(dá)最多通道數(shù)40通道的示波器;HDO,行業(yè)內(nèi)第一款高精度示波器;以及SDAIII-CompleteLinQ,應(yīng)用于示波器
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安捷倫無(wú)線(xiàn)通訊實(shí)驗(yàn)室 啟動(dòng)測(cè)試新能量

- 由于無(wú)線(xiàn)通訊技術(shù)復(fù)雜度不斷提高,客戶(hù)的需求也越來(lái)越難以滿(mǎn)足。為了讓更多的無(wú)線(xiàn)通訊客戶(hù)都能精準(zhǔn)無(wú)誤地進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證,安捷倫也不斷提升自有的測(cè)試能量。目前安捷倫已經(jīng)完成中壢辦公室的無(wú)線(xiàn)通訊實(shí)驗(yàn)室擴(kuò)充計(jì)畫(huà),將可提供相關(guān)客戶(hù)更完整的先期驗(yàn)證測(cè)試服務(wù)與應(yīng)用技術(shù)支援。 ? ? 附圖 : 安捷倫科技中壢無(wú)線(xiàn)通訊實(shí)驗(yàn)室正式啟用,將致力協(xié)助在地顧客于無(wú)線(xiàn)通訊的研發(fā)、製造與建置,協(xié)助客戶(hù)取得競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)。 BigPic:350x263 臺(tái)灣安捷倫電子量測(cè)事業(yè)群總經(jīng)理張志銘表示,下一步
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高功放高壓聯(lián)鎖電路改進(jìn)與測(cè)試
- 高壓聯(lián)鎖性能的好壞直接影響設(shè)備能否正常工作。通過(guò)分析CPI高功放(HPA)的延時(shí)加高壓程序、高壓聯(lián)鎖電路和交流延時(shí)器工作原理,研究出一種新改進(jìn)的高壓聯(lián)鎖電路方案和用于交流延時(shí)器的測(cè)試方法。分析闡述表明,該方案和測(cè)試方法克服了CPI高功放的高壓聯(lián)鎖方案的弊端。另外,根據(jù)分析結(jié)果設(shè)計(jì)了延時(shí)測(cè)試電路,它可對(duì)交流延時(shí)器性能參數(shù)進(jìn)行定量測(cè)試。
- 關(guān)鍵字: 高功放 電路 測(cè)試 聯(lián)鎖
Frost&Sullivan將安立公司(Anritsu)評(píng)為年度最佳全球測(cè)試與測(cè)量公司
- ? 全球通信測(cè)試與測(cè)量解決方案領(lǐng)先者安立公司(Anritsu)宣布,成長(zhǎng)合作伙伴公司 Frost & Sullivan 已將安立公司(Anritsu)評(píng)選為榮獲“年度最佳測(cè)試與測(cè)量獎(jiǎng)”(Year Award for Test & Measurement)的全球公司。在選擇安立的過(guò)程中,F(xiàn)rost & Sullivan 列舉了安立公司的強(qiáng)大客戶(hù)關(guān)系、開(kāi)發(fā)可滿(mǎn)足市場(chǎng)需求的產(chǎn)品能力以及價(jià)值取向,尤其在推出面向 LTE 市場(chǎng)的測(cè)試解決方案方面的貢獻(xiàn)。
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基于嵌入式的SoC驗(yàn)證效率測(cè)試方案
- 隨著科技的發(fā)展,系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)更高的功能集成度與更快的內(nèi)部時(shí)鐘速度以及復(fù)雜的高速I(mǎi)/O相結(jié)合,這意味著提供正...
- 關(guān)鍵字: 嵌入式 測(cè)試 效率 SoC驗(yàn)證
測(cè)試介紹
中文名稱(chēng):
測(cè)試
英文名稱(chēng):
test
定義1:
對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。
應(yīng)用學(xué)科:
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2:
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科:
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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