抖動(dòng)(jitter)測量 文章 最新資訊
吉時(shí)利發(fā)布基于LINUX的參數(shù)測試系統(tǒng)
- 美國吉時(shí)利(Keithley)儀器公司日前發(fā)布關(guān)于其S600系列參數(shù)測試系統(tǒng)的一組升級(jí)功能。其最主要升級(jí)是在每套測試系統(tǒng)中的嵌入式控制電腦上移植Linux操作系統(tǒng)(OS)。本項(xiàng)升級(jí)為其控制電腦提供更穩(wěn)定的OS和更長的服務(wù)壽命,減少了用戶升級(jí)新工作站和軟硬件資源的開銷。此外,此次固件升級(jí)相比原來基于UNIX的系統(tǒng)具有更高的測試產(chǎn)能。新軟件授權(quán)(license)方法采用USB棒作為每套測試器的硬件鑰匙,通過在不同工作站間的遷移縮短維護(hù)時(shí)間。 吉時(shí)利推出的該款采用Linux控制器的參數(shù)測試系統(tǒng)迎合了當(dāng)
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安捷倫發(fā)布 U2000 系列基于USB的功率傳感器
- 安捷倫科技最新發(fā)布的 Agilent U2000 系列基于USB的功率傳感器,與典型功率計(jì)和類似的功率探測解決方案相比,重量更輕,并有更高的性價(jià)比。由于使用這種功率傳感器進(jìn)行測量可不需要功率計(jì)或額外的硬件模塊,因此能節(jié)省工作臺(tái)空間,也使現(xiàn)場測試工作更簡單、更容易。 U2000系列功率傳感器可與各種 Agilent 信號(hào)源、頻譜分析儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀配合使用,從而使這些儀器具有更精確的平均功率測試能力。除了USB設(shè)備即插即用的連通性所提供的簡便、快速的設(shè)置外,U2000系列功率傳感器還通過與組合眾多功
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科利登發(fā)布D-6432DFT測試解決方案
- 科利登系統(tǒng)有限公司推出業(yè)界性價(jià)比最高、性能最為出眾的解決方案Sapphire D-6432DFT,用于測試新興的高速計(jì)算和消費(fèi)應(yīng)用中所使用的微處理器、游戲及圖形器件。該設(shè)備的推出再次強(qiáng)化了科利登市場領(lǐng)先的Sapphire測試平臺(tái)。 Sapphire D-6432DFT設(shè)備是首款用于高速串行總線的集成測試解決方案,在一次插入中結(jié)合了高速環(huán)路測試、抖動(dòng)測量和注入信號(hào),以及掃描/功能性測試和DC參數(shù)測量。D-6432DFT的密度比同類產(chǎn)品高出4倍,可為制造商提供突破性的可測性設(shè)計(jì)(DFT)方法,助其顯
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基于計(jì)算機(jī)的機(jī)床測試系統(tǒng)
- 在工業(yè)生產(chǎn)測試過程中,經(jīng)常要對溫度、流量、壓力等模擬量進(jìn)行采集,對繼電器、接觸器等開關(guān)量進(jìn)行控制,此外還有步進(jìn)電機(jī)和伺服電機(jī)進(jìn)行精確的位移控制。開發(fā)一種基于計(jì)算機(jī)的機(jī)床測試系統(tǒng),把各種控制量集成在一起構(gòu)成閉環(huán)控制系統(tǒng)很有必要。本文以一臺(tái)計(jì)算機(jī)為主控制器,采用Windows風(fēng)格接口軟件,計(jì)算和測試速度快,信息處理能力強(qiáng),系統(tǒng)集成度高,工作界面友好,操作方便,實(shí)現(xiàn)了多參數(shù)測試過程自動(dòng)化,提高了測試效率和準(zhǔn)確性。 系統(tǒng)主要功能及特點(diǎn) 系統(tǒng)以對機(jī)床性能影響大的參數(shù)集成測試為主要目的,具有以下功能
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基于AD8302芯片的新的幅相測量系統(tǒng)
- 引 言 傳統(tǒng)的幅度、相位差、阻抗測量需要采用多個(gè)中小規(guī)模集成電路,不僅電路復(fù)雜,測量精度低,而且適用的頻率范圍窄,只能測量低頻或中頻信號(hào)。本文介紹利用美國ADI公司最近推出的AD8302芯片測量RF/IF幅度和相位差并計(jì)算阻抗。此芯片是測量幅度、相位差的首款單片集成電路,可廣泛用于GSM(全球移動(dòng)通信系統(tǒng)),電力系統(tǒng)的阻波器、結(jié)合濾波器等領(lǐng)域。 1 AD8302性能特點(diǎn) AD8302內(nèi)含兩個(gè)精密匹配寬帶對數(shù)檢波器、一個(gè)相位檢波器、輸出放大器組、一個(gè)偏置單元和一個(gè)輸出參考電壓緩沖器等,能同時(shí)
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KLA-Tencor 發(fā)布最新 HRP-350系統(tǒng)
- KLA-Tencor 發(fā)布高分辨率表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350,使測量能力擴(kuò)展至 45 納米半導(dǎo)體器件。這個(gè)新設(shè)備配備半徑低至 20 納米的鉆石探針和低噪音平臺(tái),從而提高了測量靈敏度,并使芯片生產(chǎn)商能夠監(jiān)控極其細(xì)微的橫向和縱向尺寸。除這些突破之外,該系統(tǒng)還擁有更高的掃描速度,因而能在多種關(guān)鍵性晶體管和互連應(yīng)用中提升系統(tǒng)生產(chǎn)能力。 “隨著半導(dǎo)體器件的更新?lián)Q代,在重要的蝕刻和化學(xué)機(jī)械拋光工藝中,形貌控制要求也越發(fā)嚴(yán)格。我們的客戶需要一
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意法半導(dǎo)體便攜設(shè)備用雙軸模擬加速計(jì)尺寸緊湊、節(jié)能降耗
- 意法半導(dǎo)體宣布該公司的超小型“低g”線性加速計(jì)產(chǎn)品家族增加一個(gè)新的解決方案,新產(chǎn)品LIS244AL動(dòng)作傳感器在電路板占據(jù)一個(gè)面積很小的呈正方形位置,功耗極低,特別適合電池供電的便攜應(yīng)用,如手機(jī)、便攜多媒體播放器或遙控器。 新的加速計(jì)在一個(gè)單封裝內(nèi)集成了一個(gè)可靠的雙軸MEMS加速計(jì)傳感器和一個(gè)CMOS接口芯片,該接口芯片提供兩個(gè)同步實(shí)時(shí)模擬輸出:一個(gè)是側(cè)向(橫向)運(yùn)動(dòng)輸出信號(hào),另一個(gè)是前后(縱向)運(yùn)動(dòng)輸出信號(hào)。 新產(chǎn)品LIS244AL能夠在極低的噪聲下提供加速數(shù)值,需要
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ADI公司發(fā)布用于短距無線裝置開發(fā)的新RF設(shè)計(jì)工具
- 美國模擬器件公司的 SRD Design Studio是針對短距裝置(short range device)無線連接設(shè)計(jì)和仿真的軟件工具。SRD Design Studio可以從ADI公司的網(wǎng)站上免費(fèi)獲得,用于幫助用戶對基于ADI公司的ADF70xx系列SRD發(fā)射機(jī)和收發(fā)機(jī)的短距無線通信裝置進(jìn)行評估、設(shè)計(jì)和故障排查。ADF70xx產(chǎn)品針對自動(dòng)抄表、工業(yè)自動(dòng)化、安全保衛(wèi)、家庭自動(dòng)化、遙控以及其他低功率
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基于磁盤陣列的全數(shù)字遙測記錄系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
- 引 言 我國遙測記錄設(shè)備經(jīng)歷了倍密度磁帶機(jī)和旋轉(zhuǎn)頭磁帶機(jī)兩代產(chǎn)品,目前仍在使用。從記錄原理上說他們皆屬于模擬記錄設(shè)備,在長期使用當(dāng)中,已暴露出諸多缺陷: (1)磁帶耗材依賴進(jìn)口,價(jià)格昂貴且記錄容量小、重復(fù)使用率低、數(shù)據(jù)保存時(shí)間短。 (2)磁頭和機(jī)械運(yùn)帶機(jī)構(gòu)屬精密加工器件,調(diào)校過程相當(dāng)復(fù)雜,長期使用磨損嚴(yán)重,記錄性能顯著惡化,給設(shè)備維護(hù)帶來極大不便。 隨著計(jì)算機(jī)硬盤制造技術(shù)的飛速發(fā)展和數(shù)字存儲(chǔ)技術(shù)的問世及不斷應(yīng)用,采用大容量高速硬盤記錄模擬遙測信號(hào)的數(shù)字化
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Aeroflex發(fā)布新型920數(shù)字射頻綜合測試儀
- 日前,Aeroflex宣布推出用于模擬系統(tǒng)、TETRA及P25技術(shù)的新型3920數(shù)字射頻綜合測試儀。3920具有全新的增強(qiáng)特性,可為專業(yè)測試人員提供集成化的更多測試功能,便捷的遠(yuǎn)程遙控操作以及功能強(qiáng)大的文件管理功能。Aeroflex3900系列的新一代產(chǎn)品3920將取代原有的3901及3902射頻測試儀。在具備更多新特性與新功能的同時(shí),3920仍可支持先前3901及3902所能夠執(zhí)行的全部測試功能,其中包括TETRA移動(dòng)臺(tái)、基站及直通模式測試。
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ST便攜設(shè)備用雙軸模擬加速計(jì)尺寸緊湊節(jié)能降耗
- 意法半導(dǎo)體宣布該公司的超小型“低g”線性加速計(jì)產(chǎn)品家族增加一個(gè)新的解決方案,新產(chǎn)品LIS244AL動(dòng)作傳感器在電路板占據(jù)一個(gè)面積很小的呈正方形位置,功耗極低,特別適合電池供電的便攜應(yīng)用,如手機(jī)、便攜多媒體播放器或遙控器。 新的加速計(jì)在一個(gè)單封裝內(nèi)集成了一個(gè)可靠的雙軸MEMS加速計(jì)傳感器和一個(gè)CMOS接口芯片,該接口芯片提供兩個(gè)同步實(shí)時(shí)模擬輸出:一個(gè)是側(cè)向(橫向)運(yùn)動(dòng)輸出信號(hào),另一個(gè)是前后(縱向)運(yùn)動(dòng)輸出信號(hào)。 新產(chǎn)品LIS244AL能夠在極低的噪聲下提供加速數(shù)值,需要的功耗非常低,這在電池供電的便
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基于FPGA系統(tǒng)易測試性的研究
- 引 言 現(xiàn)代科技對系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求,而FPGA技術(shù)在電子系統(tǒng)中應(yīng)用已經(jīng)非常廣泛,因此FPGA易測試性就變得很重要。要獲得的FPGA內(nèi)部信號(hào)十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲,這一切使得設(shè)計(jì)調(diào)試和檢驗(yàn)變成設(shè)計(jì)中最困難的一個(gè)流程。另一方面,當(dāng)前幾乎所有的像CPU、DSP、ASIC等高速芯片的總線,除了提供高速并行總線接口外,正迅速向高速串行接口的方向發(fā)展,F(xiàn)PGA也不例外。每一條物理鏈路的速度從600 Mbps到10 Gbps,高速I/O的測試和驗(yàn)證更成為傳統(tǒng)專注于FPG
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高端封裝產(chǎn)能壟斷 明確目標(biāo)把握細(xì)分市場
- 中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會(huì)封裝分會(huì)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示,2006年我國集成電路封裝測試業(yè)共實(shí)現(xiàn)銷售額496億元,同比增長44%,在產(chǎn)業(yè)鏈中的比重達(dá)到50.8%,是近幾年增長最快的一年,首次出現(xiàn)銷售收入過百億元的集成電路制造企業(yè)。中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會(huì)副理事長、中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會(huì)封裝分會(huì)理事長畢克允強(qiáng)調(diào),近年來,我國封裝測試業(yè)自主創(chuàng)新工作取得了新的進(jìn)展,一批骨干企業(yè)自主研發(fā)了FBP、MCM、CBGA等新型封裝技術(shù)。但是,不可否認(rèn),我國封裝測試產(chǎn)業(yè)整體水平與國際水平相比仍有很大差距,隨著市場
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KLA-Tencor 發(fā)布高分辨率表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350
- KLA-Tencor日前發(fā)布業(yè)界最先進(jìn)的高分辨率表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350,使測量能力擴(kuò)展至 45 納米半導(dǎo)體器件。這個(gè)新設(shè)備配備半徑低至 20 納米的鉆石探針和低噪音平臺(tái),從而提高了測量靈敏度,并使芯片生產(chǎn)商能夠監(jiān)控極其細(xì)微的橫向和縱向尺寸。除這些突破之外,該系統(tǒng)還擁有更高的掃描速度,因而能在多種關(guān)鍵性晶體管和互連應(yīng)用中提升系統(tǒng)生產(chǎn)能力。 “隨著半導(dǎo)體器件的更新?lián)Q代,在重要的蝕刻和化學(xué)機(jī)械拋光工藝中,形貌控制要求也越發(fā)嚴(yán)格。我們的客戶需要一種單一系統(tǒng)解決方案,既可支持影響良率的納米級(jí)應(yīng)
- 關(guān)鍵字: 測試 測量 KLA-Tencor 表面輪廓測量系統(tǒng) HRP-350 測試測量
無線數(shù)傳模塊在遠(yuǎn)程環(huán)境監(jiān)測系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 現(xiàn)代世界是一個(gè)信息世界,信息的獲取傳輸也逐步從有線過渡到無線。隨著無線通信事業(yè)的發(fā)展,無線傳輸這一技術(shù)越來越多的為人們所熟悉,相應(yīng)的產(chǎn)品也滲透到社會(huì)生活的各個(gè)領(lǐng)域,如無線抄表、數(shù)字圖像傳輸、小區(qū)傳呼、工業(yè)數(shù)據(jù)采集、非接觸RF 智能卡、安全防火系統(tǒng)、區(qū)域報(bào)警系統(tǒng)的數(shù)字信號(hào)傳輸?shù)取6@一技術(shù)的最大作用便是優(yōu)化數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)的效率。本文將此技術(shù)應(yīng)用于無線通信的遠(yuǎn)程環(huán)境監(jiān)測系統(tǒng)中,使該系統(tǒng)不僅數(shù)據(jù)傳輸效率高,而且結(jié)構(gòu)簡單,操作方便。 一、遠(yuǎn)程環(huán)境監(jiān)控系統(tǒng)組成 1、
- 關(guān)鍵字: 測試 測量 工業(yè)控制 無線數(shù)傳模塊 環(huán)境監(jiān)測 模塊 工業(yè)控制
抖動(dòng)(jitter)測量介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對抖動(dòng)(jitter)測量的理解,并與今后在此搜索抖動(dòng)(jitter)測量的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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