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半導體測試設備 文章 最新資訊

東芝推出高速導通小型光繼電器，可縮短半導體測試設備的測試時間

  • 芝電子元件及存儲裝置株式會社（“東芝”）近日宣布，最新推出采用S-VSON4T[1]封裝的光繼電器——“TLP3414S”與“TLP3431S”，具有比東芝現(xiàn)有產(chǎn)品更快的導通時間[2]。TLP3414S與TLP3431S的斷態(tài)輸出端電壓和通態(tài)電流額定值分別為40 V/250 mA和20 V/450 mA。該產(chǎn)品于近日開始支持批量出貨。新型光繼電器通過提高輸入側紅外LED的光輸出并優(yōu)化光電探測器（光電二極管陣列）的設計，可實現(xiàn)高效的光耦合，將導通時間最大值縮短至150 μs。TLP3414S的導通時間比東芝
  • 關鍵字： 東芝  光繼電器  半導體測試設備  

東芝推出適用于半導體測試設備中高頻信號開關的小型光繼電器

  • 東芝電子元件及存儲裝置株式會社（“東芝”）近日宣布，推出采用小巧纖薄的WSON4封裝的光繼電器“TLP3475W”。它可以降低高頻信號中的插入損耗，并抑制功率衰減[1]，適用于使用大量繼電器且需要實現(xiàn)高速信號傳輸?shù)陌雽w測試設備的引腳電子器件。該產(chǎn)品于近日開始支持批量出貨。TLP3475W采用了東芝經(jīng)過優(yōu)化的封裝設計，這有助于降低新型光繼電器的寄生電容和電感。降低插入損耗的同時還可將高頻信號的傳輸特性提高到20GHz（典型值）[2]——與東芝現(xiàn)有產(chǎn)品TLP3475S相比，插入損耗降低了約1/3[2]。TL
  • 關鍵字： 東芝  半導體測試設備  高頻信號開關  光繼電器  

研華模塊化電腦與登臨GPU加速卡完成產(chǎn)品互認證

  • 導讀：研華基于Intel第12代酷睿(Alder Lake-S)平臺的模塊化電腦產(chǎn)品SOM-C350與登臨創(chuàng)新通用GPU系列加速卡Goldwasser（高凜）完成適配和互認證。相關產(chǎn)品在系統(tǒng)測試及驗證過程中，表現(xiàn)出優(yōu)越的系統(tǒng)穩(wěn)定性且各項性能特征均滿足用戶的關鍵應用需求。 隨著大數(shù)據(jù)和物聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展，AI在智慧城市、智慧醫(yī)療及智慧工廠等各個領域的應用越來越普遍，AI技術已經(jīng)成為促進產(chǎn)業(yè)數(shù)字化升級的關鍵。應市場的發(fā)展和需求，深耕于物聯(lián)網(wǎng)多年的研華與國內(nèi)GPU知名企業(yè)登臨開展合作，積極發(fā)揮各自優(yōu)勢，為客
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東芝小型光繼電器: 高速導通助力縮短半導體測試設備的測試時間

  • 中國上海，2023年5月25日——東芝電子元件及存儲裝置株式會社（“東芝”）今日宣布，推出采用S-VSON4T封裝的光繼電器——“TLP3476S”，其導通時間與東芝當前產(chǎn)品TLP3475S相比縮短了一半。該產(chǎn)品于今日開始支持批量出貨。與東芝當前的產(chǎn)品TLP3475S相比，TLP3476S運行速度更快、結構更緊湊。該產(chǎn)品通過提高紅外LED的光輸出并優(yōu)化光電探測器件（光電二極管陣列）的設計，可實現(xiàn)高效的光耦合，也提高了運行速度，將導通時間最大值縮短至0.25ms，時間為TLP3475S的一半。此外，由于采用
  • 關鍵字： 東芝  光繼電器  高速導通  半導體測試設備  
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半導體測試設備介紹

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