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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 半導(dǎo)體?測試?系統(tǒng)?

半導(dǎo)體?測試?系統(tǒng)? 文章 最新資訊

大容量存儲器集成電路的測試

  • 摘要：介紹了有關(guān)大容量存儲器集成電路測試系統(tǒng)的軟件原理和硬件構(gòu)成，對大容量存儲器集成電路的測試方法作了初步探討，希望對實現(xiàn)實驗室精確測試和生產(chǎn)中大批量芯片中測和成品測試有所幫助。 關(guān)鍵詞：測試系統(tǒng)： 存儲器集成電路： 塊； 頁 中圖分類號：TN407 文獻標識碼：A 文章編號：1004-4507(2005)05-0049-04 目前國內(nèi)電腦內(nèi)存條及配套產(chǎn)品、語言復(fù)讀機、DVD機以及數(shù)碼相機、數(shù)碼錄音、MP3等方面，對存儲器電路需求量超過8000萬只，隨著各
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機器視覺系統(tǒng)的典型應(yīng)用

  • 機器視覺技術(shù)的優(yōu)越性 由于機器視覺系統(tǒng)可以快速獲取大量信息，而且易于自動處理，也易于同設(shè)計信息及加工控制信息集成，因此在現(xiàn)代自動化生產(chǎn)過程中，人們將機器視覺廣泛運用于工況監(jiān)視、成品檢驗和質(zhì)量控制等領(lǐng)域。機器視覺系統(tǒng)的特點是提高生產(chǎn)的柔性和自動化程度。在一些不適合于人工作業(yè)的危險工作環(huán)境或人工視覺難以滿足要求的場合，常用機器視覺來代替人工視覺;同時在大批量工業(yè)生產(chǎn)過程中，用于人工視覺檢查產(chǎn)品質(zhì)量的效率低且精度不高，用機器視覺檢測方法可以大大提高生產(chǎn)效率和生產(chǎn)的自動化程度。而且機器視覺易于實現(xiàn)信息集成，是實現(xiàn)
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IPv6之于測試商是發(fā)展的機遇也是技術(shù)的考驗

  • IPv6為互聯(lián)網(wǎng)換上了一個高速、快捷的引擎，它不僅可以解決IPv4地址短缺及安全問題，而且可以使互聯(lián)網(wǎng)擺脫日益復(fù)雜、 難以管理和控制的局面，使之變得更加穩(wěn)定、安全和可靠。IPv6的浮出水面，為測試設(shè)備廠商帶來了機遇，但同時也使他們面臨新技術(shù)的考驗。  IPv6代替IPv4是趨勢  雖然IPv4是目前廣泛部署的因特網(wǎng)協(xié)議，但隨著互聯(lián)網(wǎng)的迅猛發(fā)展，IPv4設(shè)計的不足也日益明顯：IPv4地址空間不足、骨干路由器維護的路由表表項過大不易進行自動配置和重新編址、安全問題無法解決。這就使
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測試測量在移動視頻中的應(yīng)用

  • 移動電話業(yè)界和廣播網(wǎng)絡(luò)運營商越來越愿意為包括筆記本電腦、移動電話和PDA在內(nèi)的移動接收終端提供多媒體流的視頻內(nèi)容服務(wù)。DVB-H（數(shù)字視頻廣播－手持）克服了移動環(huán)境下采用DVB－T（數(shù)字視頻廣播－地面）的限制之后，已準備好為手持設(shè)備傳輸電視信號。此外，為DVB-H應(yīng)用的測試技術(shù)正在評估中，以保證電路、終端和網(wǎng)絡(luò)的可靠集成。    DVB-H對于移動電視發(fā)送是再合適不過的技術(shù)，因為它可以適應(yīng)移動電視所遇到的兩大困難：  • 第一，DVB-H采用稱
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ADI采用iCMOS制造工藝的10款高精度和低成本放大器面世

  • 美國模擬器件公司(AnalogDevices,Inc.)日前發(fā)布10款新的運算放大器擴展其產(chǎn)品種類，它們擴展了5V～16V(
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聯(lián)通五地測試WiMAX年內(nèi)結(jié)束

  • “聯(lián)通的WiMAX測試將在今年年內(nèi)結(jié)束?！弊蛉眨袊?lián)通內(nèi)部人士表示。聯(lián)通將在測試結(jié)束后考慮上馬建設(shè)WiMAX網(wǎng)絡(luò)。上海聯(lián)通技術(shù)總監(jiān)劉耀進在近日舉行的“上海電信業(yè)大客戶服務(wù)創(chuàng)新研討會”上接受記者采訪表示，聯(lián)通正在五地測試WiMAX，其中包括廣東、上海、大連等地，WiMAX設(shè)備由國內(nèi)外多家電信設(shè)備商提供。  WiMAX是一種無線寬帶技術(shù)，具有覆蓋半徑大、傳輸帶寬大的特點。甚至有業(yè)內(nèi)專家認為WiMAX未來可以取代3G。  聯(lián)通密測  劉耀進透露，聯(lián)通未來上馬WiMAX主要將部署在
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Dallas推出SHA-1認證主控制器DS2705

  • DallasSemiconductor日前推出SHA-1認證主控制器DS2705。DS2705提供了一個主控制器側(cè)的安全散列算法(SHA)令牌認證方案，自動執(zhí)行質(zhì)詢/響應(yīng)序列。該專用器件無需進行主機硬件和軟件開發(fā)，因此大大簡化了設(shè)計過程并縮短了開發(fā)周期。  DS2705放置于主機側(cè)，與放置于電池或其它附件的DallasSemiconductor其它電池管理SHA-1令牌產(chǎn)品配合使用。后者涉及到的產(chǎn)品包括DS2703SHA-1電池包認證IC和DS2704帶SHA-1認證的DS2704 1
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公用電信網(wǎng)網(wǎng)間互通測試

  • 摘要　針對我國公共電信網(wǎng)網(wǎng)間在互聯(lián)互通過程中存在的問題，提出相應(yīng)的測試方法，為網(wǎng)間互聯(lián)互通工作提供一種解決或改善問題的途徑以及數(shù)據(jù)依據(jù)。 關(guān)鍵詞　互聯(lián)互通　綜合關(guān)口局　撥測 1、引言 　　隨著近幾年來的改革和重組，我國的電信市場已經(jīng)打破了一家壟斷的格局，出現(xiàn)多家運營商網(wǎng)絡(luò)共存的局面。不同電信網(wǎng)之間的互通是我國電信資源整合的基本要求，而保證通暢的互通才是最終的目標，是符合老百姓需求的一件工作。但是，由于網(wǎng)間業(yè)務(wù)涉及到相關(guān)的兩個不同的運營商，雙方的利益、設(shè)備、管理、制度和人員都不盡相同，這使得網(wǎng)間的互聯(lián)互通工
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IDEAL技術(shù)推出線纜性能測試儀

  •        近日，美國理想工業(yè)公司最新推出SIGNALTEKTM線纜性能測試儀，旨在提供一種有效保護投資，且有效評測1000M（含10/100M）以太網(wǎng)性能的解決方案，使用戶準確量化掌握最新一代以太網(wǎng)技術(shù)應(yīng)用所需鏈路指標。    采用革命性技術(shù)的SIGNALTEKTM可協(xié)助綜合布線施工及網(wǎng)絡(luò)維護人員，對語音、數(shù)據(jù)、視頻線纜及VoIP等應(yīng)用的性能予以測試并生成書面報告。通過向線路發(fā)送以太網(wǎng)數(shù)據(jù)包，同時依據(jù) IEEE 802.
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ADI公司擴展適合工業(yè)和儀器儀表應(yīng)用

金融稅控收款機系統(tǒng)中Modem的解決方案

  • 介紹在金融稅控收款機系統(tǒng)中Modem所應(yīng)具有的同步／異步傳輸，高可靠兼容低速率及高速異步傳輸和支持快速握手協(xié)議的特點；詳細介紹CX86500(Modem)+CX20493(SmartDAA芯片)組成Modem方案的優(yōu)點；說明CX86500+CX20493數(shù)據(jù)傳輸?shù)挠布砼c軟件實現(xiàn)。CX86500內(nèi)部集成有MCU、DSP、RAM和ROM；外圍元件很少，只需加入時鐘與復(fù)位電路。用CX20493可以替代傳統(tǒng)Modem方案中由模擬變壓器、繼電器和光電隔離器組成的DAA，有效地解決了POS行業(yè)Modem方案復(fù)雜的
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橫河電機新型、高性能的光譜分析儀AQ6370

  •     橫河電機（YOKOGAWA）最新研發(fā)成功的新型、高性能光譜分析儀AQ6370，是一款能有效提高光通信系統(tǒng)與器件研發(fā)與生產(chǎn)測量效能的設(shè)備。 AQ6370是前安藤電氣（ANDO）早期光譜儀AQ6317系列的換代產(chǎn)品，目前AQ6317系列光譜分析儀在市場上受到用戶的歡迎，但AQ6370與之相比具有更高的性價比。AQ6370在OFC/NFOEC上展出后受到各方的好評。因此AQ6370將是提高用戶測量效率、降低測量成本的理想選擇。 開發(fā)背景： 目前為了應(yīng)對由
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波形發(fā)生器之年

  • 因為出現(xiàn)了不同尋常的大量新產(chǎn)品，我據(jù)此認為2005年是“波形發(fā)生器之年”。我已經(jīng)確認有8家公司在2005年推出了函數(shù)或任意波形發(fā)生器，這8家公司是：B&K Precision、Fluke、Geotest、Novatech Instruments、Signal Forge、Tabor Electronics、Tegam和Tektronix。價格范圍從不到1000美元直至17,000多美元。　　Tektronix公司信號源產(chǎn)品線市場經(jīng)理Bob Buxton表示：“從標準波形到任意波形的趨勢非常明顯，我
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利用工藝控制手段防止缺陷

  • 　絕大部分電子設(shè)備組裝線都會產(chǎn)生一些缺陷或錯誤。例如，焊料印刷機可能堆積了過量的焊料造成污染，也可能因焊料過少而不敷使用，元件取放機可能沒有把元件放在適當(dāng)?shù)奈恢没蚍较虿粚Α＿@些錯誤都降低了PCB組裝的一次通過率，有時候這些缺陷在短期內(nèi)就表現(xiàn)出來，不過大部分情況下都是過了一段時間才發(fā)生（圖1）。 　　為了捕獲這些缺陷，許多廠商使用自動光學(xué)檢測（AOI）設(shè)備來定位問題，并由工人在組裝線的末端進行修復(fù)。當(dāng)廠商能夠接受返修和現(xiàn)場故障的成本時，這個策略看起來不錯，但是對于那些正在利潤空間很小的市場上競爭的PC
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多點測試的挑戰(zhàn)

  • 　　這看起來很簡單。如果你想要降低測試IC的成本，你就需要把2個甚至4個器件放在一起進行測試。存儲器制造商已經(jīng)毫無疑問地證明了這種方法的價值——并行測試128個DRAM器件已經(jīng)成為一種標準的慣例（參考文獻1）。多點測試已經(jīng)將每個DRAM測試點的資金投入從1997年的40萬美元降低到2004年的約2.7萬美元。盡管在同一個時期內(nèi)存儲器的密度從64Mb增加到了1Gb，但存儲器的測試成本穩(wěn)中有降。 　　為什么同樣的方法不能應(yīng)用于所有器件的測試呢？在某種范圍內(nèi)這種方法是可行的，但是大多數(shù)測試工程師知道事情遠沒有
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半導(dǎo)體?測試?系統(tǒng)?介紹

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