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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 半導體?測試?系統(tǒng)?

半導體?測試?系統(tǒng)? 文章 最新資訊

意法半導體推系列低端單相電表前端測量IC

  • 寬產品線半導體供應商之一的意法半導體日前推出一個新系列的電表IC，新IC集成了實現一個完整的電表系統(tǒng)所需的全部核心電路，不再需要任何其它的外部有源器件。STPM1x系列產品可以測量有源電能，把結果以脈沖頻率的形式輸出，并支持快速數字校準功能，是一系列功能完整、成本低廉的電表芯片，特別適用于低端電表應用。  新的STPM1x系列完全符合單相0.5級靜態(tài)電表的技術規(guī)格，具有簡單而快捷的數字校準功能，在整個電流量程內，只在一個負載點即可完成校準操作，與通過電阻網絡進行的硬件校準相比，新產品的制造成本被
  • 關鍵字： 測試  測量  意法半導體  電表  測量IC  測試測量  

阻抗測量方法在傳感器技術中地應用

  • 實際應用中的電路元件要比理想電阻復雜得多，并且呈現出阻性、容性和感性特性，它們共同決定了阻抗特性。阻抗與電阻的不同主要在于兩個方面。首先，阻抗是一種交流(AC)特性；其次，通常在某個特定頻率下定義阻抗。如果在不同的頻率條件下測量阻抗，會得到不同的阻抗值。通過測量多個頻率下的阻抗，才能獲取有價值的元件數據。這就是阻抗頻譜法(IS)的基礎，也是為許多工業(yè)、儀器儀表和汽車傳感器應用打下基礎的基本概念。 　　電子元件的阻抗可由電阻、電容或電感組成，更一般的情況是三者的組合?？梢圆捎锰撟杩箒斫⑦@種模型。電感器
  • 關鍵字： 測試  測量  測試測量  

安華高科技推出反射式模擬輸出光學編碼器

  • Avago Technologies(安華高科技)宣布，推出業(yè)內第一款采用模擬輸出的反射式編碼器產品，能夠提供精確定位信息和方向傳感的AEDR-8320高分辨率小型化表面貼裝光學編碼器相當適合空間受限的工業(yè)和辦公室自動化應用，這款新模擬輸出反射式編碼器是Avago豐富多樣化小型光學編碼器的最新產品。Avago是為通信、工業(yè)和消費類等應用領域提供模擬接口零組件的領導廠商。 尺寸為6.50mm長x 4.20mm寬x 1.69mm高，Avago的AEDR-8320表面貼裝反射式光學
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ADI發(fā)布10 MHz帶寬數字可設置增益儀表放大器 AD8253

  • AD8253數字可設置增益儀表放大器其增益可達1000，同時可提供市場上其它儀表放大器或分立解決方案無法相比的直流（DC）精度和交流（AC）帶寬特性，從而適合于數據采集系統(tǒng)、自動測試設備（ATE）和生物醫(yī)學儀器，因為這些應用要求在寬電壓范圍內完成快速、精確測量和魯棒性信號調理。高增益設置允許放大小信號（例如來自傳感器的小信號）以驅動模數轉換器（ADC）。 AD8253具有數字可設置增益功能，其增益可設置為1，10，100和1000，從而允許用戶即使在AD8253用于系統(tǒng)之后也可以調整增益。它采用
  • 關鍵字： 測試  測量  測試測量  

基于SAA7214與SAA7215機頂盒的系統(tǒng)設計

  • 本文介紹了PHILIPS公司推出的適合于交互式數字電視應用的SAA7214和SAA7215芯片的功能特點及結構。提出了二者相結合組成的交互式數字有線電視機頂盒的方案，并給出了具體的軟件和硬件系統(tǒng)構成。
  • 關鍵字： 系統(tǒng)  設計  機頂盒  SAA7215  SAA7214  基于  

PXI十年 高調入長安

  •                                       西安，作為國內軍工和重工業(yè)的研究中心之一，這里對高性能
  • 關鍵字： PXI  NI  測試總線  測試  測量  PXI總線  測試測量  

DS協(xié)同Microsoft Visual Studio簡化半導體設計

  • Dassault Systemes (DS)，日前宣布為其業(yè)內領先的半導體設計管理方案——ENOVIA MatrixOne Synchronicity DesignSync 5.0推出最新插件，該插件使程序員可以在Microsoft Visual Studio設計平臺下工作，換言之，它們可以在自己熟悉的桌面環(huán)境下存取、管理和協(xié)同DesignSync文件，而不需要學習新的工具。該Visual Studio 插
  • 關鍵字： 模擬技術  電源技術  Microsoft  Visual  Studio  半導體  模擬IC  電源  

安捷倫為三個移動WiMAX(tm)測量解決方案添加MIMO第2波測試支持

  • 安捷倫科技公司近日宣布，其矢量信號分析儀（VSA）、Signal Studio和移動WiMAX測試儀測量解決方案已經得到進一步加強，以方便WiMAX論壇(r)第2波系統(tǒng)協(xié)議的測試。  這些標準化協(xié)議指定多路輸入多路輸出（MIMO）等選項。MIMO是一種可擴充容量的多天線技術，作為移動WiMAX的基礎支持IEEE 802.16e-2005。安捷倫增強測量解決方案能夠精確和經濟高效地測試MIMO及其他第2波協(xié)議功能，為工程師進行移動WiMAX信號分析、信號生成和端到端功能測試提供
  • 關鍵字： 測試  測量  安捷倫  WiMAX  MIMO  通訊  無線  網絡  測試測量  

DSP在電測量系統(tǒng)中SPI閃速引導的實現

  • 本文詳細介紹了TMS320VC5509A DSP電測量系統(tǒng)中實現SPI閃速引導的方法。以Atmel公司閃存AT25F1024為例，介紹了電測量系統(tǒng)DSP在線系統(tǒng)編程燒寫方法和TMS320VC5509A串行SPI 8位引導的原理與實現。
  • 關鍵字： 引導  實現  SPI  系統(tǒng)  測量  DSP  

Maxim推出DS4026數控溫度補償晶體振蕩器

Bjørge AS公司選擇Blackfin處理器支持復雜的聲學監(jiān)測器

  • 信號處理解決方案供應商，今日發(fā)布ADI公司的Blackfin®處理器用作世界第一個分布式同步海底管道監(jiān)測系統(tǒng)的主要部件，該系統(tǒng)是由Bjørge AS公司基于挪威歷史上最大的工業(yè)項目用于Ormen Lange天然氣田輸出的NAXYS技術開發(fā)的。NAXYS技術采用水聲技術和非接觸傳感器技術用于完成復雜的海底環(huán)境狀態(tài)監(jiān)測和分析任務。 該系統(tǒng)開發(fā)采用了支持ADI 公司Blackfin處理器的美國國家儀器公司（NI）的LabVIEW開發(fā)模塊。支持Blackfin處
  • 關鍵字： 測試  測量  Bjø  rge  AS  Blackfin  處理器  測試測量  

基于網絡分析儀提高低噪聲放大器的測量精度

  • 　1.低噪聲放大器的特點和應用 　　LNA主要用于微弱信號的放大，放大天線從空中接收到的微弱信號，降低噪聲干擾，以供系統(tǒng)解調出所需的信息數據。對LNA的主要要求是：小的噪聲系數(NF)，即LNA本身產生的噪聲功率小，噪聲是限制微弱信號檢測的基本因素， 任何微弱的信號理論上都可以經過LNA放大后被檢測到，因此檢測能力取決于信號噪聲比；高的增益，具有較好平坦度的高增益不僅可以有效地放大信號，而且可以減小下級噪聲的影響；大的動態(tài)范圍，以給輸入信號一個變化的范圍而不產生失真；與信號源很好地匹配，在此LNA前端
  • 關鍵字： 測試  測量  網絡分析儀  低噪聲放大器  測試測量  

基于MCU和FPGA靈活設計車載信息娛樂系統(tǒng)

  • 應用MCU+FPGA的設計，軟件和外設硬件都可以在FPGA中變化，整個系統(tǒng)相當于一個很容易進行升級的軟件，改變硬件就像改變軟件一樣簡單。
  • 關鍵字： 信息  娛樂  系統(tǒng)  車載  設計  MCU  FPGA  靈活  基于  

KIC推出全新溫度曲線測試儀KIC Explorer

  • KIC日前宣布，在2007年8月28-31日，在深圳會展中心舉辦的華南NEPCON/EMT展覽會上，推出新一代溫度曲線測試儀KICExplorer。KICExplorer擁有12個熱電偶。熱電偶接口的設計實現了它獨特的微小型設計，且其成本要低于使用標準K型熱電偶。     在一個小型設備中采集更多的數據僅僅只是一個開始。KICExplorer給您提供有效的最高取樣頻率,更大的存儲容量及良好的數據精度。溫度曲線測量數據能通過一個USB接口方便地傳輸到計算機中
  • 關鍵字： 測試  測量  KIC  溫度曲線  Explorer  測試測量  

NI發(fā)布LabVIEW 8.5版本，助您自在享受多核時代的到來

  • 美國國家儀器有限公司正式推出專用于測試、控制和嵌入式系統(tǒng)開發(fā)的LabVIEW圖形化系統(tǒng)設計平臺的最新版本——LabVIEW 8.5?；贜I近十年來在多線程技術上的投資，LabVIEW 8.5憑借其本質上的并行數據流特性，簡化了多核以及FPGA應用的開發(fā)。隨著處理器廠商通過并行多核構架獲得性能上的提升，運行在這些新處理器上的LabVIEW 8.5可以提供更高的測試吞吐量、更有效的處理器密集型（processor-intensive）的分析、以及運行在指定處理器核上的、更可靠的
  • 關鍵字： 嵌入式系統(tǒng)  單片機  NI  LabVIEW  8.5  測試  測量  嵌入式  
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半導體?測試?系統(tǒng)?介紹

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